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      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)

      參考價(jià) 240000
      訂貨量 ≥1
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
      • 品       牌華測(cè)
      • 型       號(hào)HCCT-40H
      • 所  在  地北京市
      • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
      • 更新時(shí)間2024/12/5 16:21:46
      • 訪問(wèn)次數(shù)102
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            北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司( 簡(jiǎn)稱: 華測(cè)儀器) 為高新技術(shù)企業(yè),專注于絕緣材料與先進(jìn)功能新材料電性能檢測(cè)以及材料電學(xué)測(cè)控設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù),目前公司產(chǎn)品已應(yīng)用于全國(guó)二十多個(gè)省、市、自治區(qū)。
        公司有功能材料、電氣絕緣材料兩個(gè)電學(xué)試驗(yàn)室;涉及材料測(cè)試儀器、器件的放大、調(diào)理、采集、控制;傳感器性能綜合評(píng)價(jià)等相關(guān)儀器。
        產(chǎn)品系列:先進(jìn)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。





      先進(jìn)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)模擬電容器在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種溫度條件,測(cè)量并記錄電容器的關(guān)鍵參數(shù)(如電容值、損耗角正切值等)隨溫度的變化情況。這些數(shù)據(jù)對(duì)于評(píng)估電容器的溫度穩(wěn)定性、預(yù)測(cè)其使用壽命以及優(yōu)化電路設(shè)計(jì)具有重要意義。
      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息


      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)

      (電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng))


      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)

      電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)系統(tǒng)

      電化學(xué)遷移評(píng)估系統(tǒng)可以輕松有效地評(píng)估產(chǎn)品壽命和絕緣電阻,從低壓測(cè)試到高壓測(cè)試都有許多應(yīng)用。

      l 評(píng)價(jià)目標(biāo)

      l 印刷電路板

      l 絕緣材料

      l 半導(dǎo)體材料

      容器泄漏測(cè)試系統(tǒng)

      電容器泄漏測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。

      l 評(píng)價(jià)目標(biāo)

      l 電容器

      Platinous J 系列恒溫試驗(yàn)箱

      作為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱的一條線,Platinous系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外,還追求理想的、生態(tài)友好的環(huán)境試驗(yàn)箱的新環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)。

      型號(hào)

      溫度范圍

      內(nèi)部容積L

      PU

      40 ~ +100℃

      120, 225, 408, 800

      PG

      70 ~ +100℃

      306, 800

      型號(hào)

      范圍 迷你零下Compact 超低溫室

      Mini Subzero 支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍(-75℃/-85℃ ) to the high-85℃)至高溫范圍(+ 100℃/+ 180℃)。該滅菌室還提供遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)和操作。

      型號(hào)

      溫度范圍

      內(nèi)部容積L

      MC-712

      75 ~ +100℃

      64

      MC-812

      85 ~ +180℃

      內(nèi)部容積 (L)

      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)

      特征

      該系統(tǒng)可用于評(píng)估特定溫度環(huán)境下電容器和各種材料的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。


      ☆ 最多64個(gè)通道的自動(dòng)測(cè)量

      該系統(tǒng)可以測(cè)量不同溫度環(huán)境下的靜電容量 (C)、損耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。

      您可以選擇8個(gè)通道的倍數(shù),最多64個(gè)通道。


      ☆ 圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果

      收集的數(shù)據(jù),包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率,可以通過(guò)各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查。


      ☆ 可從不同測(cè)試模式選擇

      溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。

      <溫度特性評(píng)估測(cè)試>

      在此測(cè)試模式下,自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度變化同步,最多40步。

      <持續(xù)運(yùn)行測(cè)試>

      該測(cè)試模式測(cè)量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。

      <頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)>

      該試驗(yàn)?zāi)J皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí),自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。測(cè)試可與溫度特性評(píng)價(jià)測(cè)試或恒定運(yùn)行測(cè)試相結(jié)合。


      ☆ 多種可選夾具 適用于不同的試驗(yàn)樣本(可選)

      除了 SMD 組件的專用夾具外,我們還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具。


      應(yīng)用程序

      l 電容器

      l 靜電容量 (C)

      l 損失因子 (D)

      l 阻抗的溫度特性 (Z)

      l 頻率特征

      l 電子材料

      l 印刷電路板

      l 通量

      l 絕緣材料(樹(shù)脂、薄膜等)

      l 介電材料(鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等)


      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)

      ①系統(tǒng)控制器

      用于登記系統(tǒng)管理的計(jì)算機(jī)和監(jiān)視器測(cè)試條件,檢查工作 狀態(tài),并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

      ②不間斷電源

      系統(tǒng)控制器的備用電源。

      ③ RS-232C

      操作員控制并監(jiān)測(cè)來(lái)自系統(tǒng)控制器的環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)。

      ④ 掃描裝置

      該裝置測(cè)量靜電容量 (C)、損耗因子(D) 和帶有測(cè)量電纜前沿的標(biāo)準(zhǔn)8通道的阻抗 (Z)。

      您可以將每臺(tái)器械的通道數(shù)增加到64個(gè),增量為8個(gè)通道。

      ⑤ 測(cè)量電纜

      由聚四氟乙烯制成的同軸電纜連接到樣品或試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)部夾具。

      ⑥ 繼電器單元

      該裝置將測(cè)量電纜連接到樣本上或測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部夾具至掃描儀裝置。繼電器單元使連接變得容易。

      ⑦ 樣品連接夾具(可選)

      用于連接 SMD 組件或離散設(shè)備的卡扣式夾具。

      ⑧ LCR儀表

      該儀表測(cè)量靜電容量 (C)、損耗因子 (D)、和阻抗(Z)。

      ⑨ 絕緣電阻測(cè)試儀(選配)

      該測(cè)試人員測(cè)量絕緣電阻。您可以將每臺(tái)器械的通道數(shù)增加到64個(gè),增量為8個(gè)通道。

      ⑩RS-485(可選)

      從環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)選項(xiàng)菜單,RS-485可將通信選作系統(tǒng)控制器和環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)的通信協(xié)議。

      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)

      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)


      MLCC電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)










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