特點(diǎn) | 優(yōu)勢(shì) |
*低噪聲(6430 為 0.4fA p-p ,6517B 和 6514 <1fA) | 確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見的*低電流實(shí)現(xiàn)更**的測量。 |
高達(dá) 10 16 ? 的電阻測量 (6517B) | **測量*高電阻材料和絕緣體。 |
遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430) | 允許直接或短暫連接到信號(hào)源,較大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。 |
低輸入端壓降 | 消除影響低電流測量精度的誤差。 |
內(nèi)置 ±1kV 電壓源,提供掃描功能 (6517B) | 簡化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測試,以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測量的過程。 |
適用于測量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測試盒 (6517B) | 防止您接觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開測試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。 |
即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)高測量速度 | 支持更快的低電平元器件測試。 |
可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口 | 簡化構(gòu)建自動(dòng)化元器件測試系統(tǒng)的過程。 |
型號(hào) | 電流 | 電阻 | 充電 | 源 |
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6514 | 100aA - 20mA | 10m? - 200G? | 10fC - 20μC | - |
6517B | 10aA - 20mA | 100? - 10P? | 10fC - 2μC | 0 - ±1000V |
6430 | 10aA - 100mA | 1µ? - >20T? | - | 0 - ±200V |