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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊

      電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)x

      參考價(jià) 1
      訂貨量 ≥1臺(tái)
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱東譜科技(廣州)有限責(zé)任公司
      • 品       牌ORIENTAL SPECTRA
      • 型       號(hào)HiYield-EL
      • 所  在  地廣州市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2024/9/6 15:02:29
      • 訪問次數(shù)547
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      東譜科技(廣州)有限責(zé)任公司是一家專業(yè)的光譜學(xué)類科研設(shè)備以及技術(shù)方案服務(wù)商。公司位于廣州市天河區(qū)核心商圈,坐落于天河軟件科技園(長(zhǎng)興智匯園區(qū)),毗鄰華南理工大學(xué)等高校。東譜科技由高校專業(yè)研究人員、行業(yè)工程師聯(lián)袂發(fā)起,核心團(tuán)隊(duì)成員均獲得光機(jī)電類碩博士學(xué)位并且在國(guó)際實(shí)驗(yàn)室及企業(yè)具有超過5-10年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn),擁有出色的光電子前沿科學(xué)研究及光機(jī)電產(chǎn)品開發(fā)的實(shí)力。 公司業(yè)務(wù)涵蓋光譜學(xué)設(shè)備研制、生產(chǎn)、銷售、技術(shù)服務(wù)等方面。目前,主營(yíng)業(yè)務(wù)包括以下四個(gè)方面:1)科研儀器開發(fā);2)科研儀器經(jīng)銷;3)前沿光譜學(xué)系統(tǒng)定制;4)譜學(xué)測(cè)量服務(wù)。已研制出一系列光譜檢測(cè)系統(tǒng),為華南師范大學(xué)、華南理工大學(xué)等眾多高??蛻籼峁┝烁鞣N完善的解決方案和大量的符合要求的產(chǎn)品和服務(wù)。 公司秉承“Born for Science”的理念創(chuàng)立,堅(jiān)持把產(chǎn)品開發(fā)和前沿光譜學(xué)研究相結(jié)合,致力于為研究人員提供更好的譜學(xué)儀器及技術(shù)服務(wù)。公司在營(yíng)銷和服務(wù)體系上始終堅(jiān)持“以終端客戶為中心”的理念,堅(jiān)決以滿足一線科研人員的需求作為首要目標(biāo),力求為研究人員提供專業(yè)的服務(wù)和優(yōu)秀的產(chǎn)品。
      電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)xHiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測(cè)量平臺(tái)中的重要成員,用于對(duì)電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測(cè)量。HiYield-EL系統(tǒng)能夠以出色的檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量,得到全面的測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)(量子效率EQE等)以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù);同時(shí)該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊,可以對(duì)器件的老化過程進(jìn)行測(cè)試。
      電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品信息


      產(chǎn)品關(guān)鍵詞:電致發(fā)光量子效率測(cè)量系統(tǒng)、電致發(fā)光測(cè)試儀、外量子效率測(cè)量系統(tǒng)、光譜功率分布(λ)測(cè)量系統(tǒng)、電功率密度測(cè)量系統(tǒng)、發(fā)光特性測(cè)試系統(tǒng)、電致發(fā)光量子效率測(cè)試系統(tǒng)、光電特性測(cè)試、量子產(chǎn)率測(cè)量?jī)x、積分球光譜測(cè)試儀、外量子效率(EQE)測(cè)量系統(tǒng)、發(fā)光特性測(cè)量?jī)x、IVLλ、EQE、有機(jī)發(fā)光二極管綜合性能測(cè)試系統(tǒng)、外量子效率、量子效率測(cè)試系統(tǒng)


      Product Keywords: Electroluminescence quantum efficiency Measurement System, electroluminescence Tester, External quantum Efficiency measurement system, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, luminescence characteristic test system, electroluminescence quantum Efficiency measurement system, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, External quantum Efficiency (EQE) measurement system, luminescence characteristic Measuring instrument, IVLλ, EQE, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute external quantum efficiency, quantum efficiency test system


      ▌ 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

      電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)xHiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測(cè)量平臺(tái)中的重要成員,用于對(duì)電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測(cè)量。HiYield 系統(tǒng)能夠以出色的檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量,得到全面的測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)(量子效率EQE等)以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù);同時(shí)該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊,可以對(duì)器件的老化過程進(jìn)行測(cè)試,且同時(shí)得到器件老化過程的全面信息,即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)(通常的老化測(cè)試儀,僅對(duì)電流、電壓和相對(duì)亮度進(jìn)行測(cè)試),典型的包括電致發(fā)光效率/量子效率EQE、壽命測(cè)試、CIE、CRI、CCT、光譜響應(yīng)、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強(qiáng)度、峰值波長(zhǎng)、FHWM等,廣泛應(yīng)用于各種類型的電致發(fā)光器件測(cè)量。




      ▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)

      □ 能夠以出色的檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量,得到全面的測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)(外量子效率等)以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù);

      □ 集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊,可以對(duì)器件的老化過程進(jìn)行測(cè)試,且同時(shí)得到器件老化過程的全面信息,即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)(通常的老化測(cè)試儀,僅對(duì)電流、電壓和相對(duì)亮度進(jìn)行測(cè)試);

      □ 由軟件控制測(cè)試過程,操作便捷,圖表和數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示;

      □ 可快速、可靠對(duì)樣品的測(cè)試過程進(jìn)行追蹤;

      □ 具有實(shí)時(shí)測(cè)量、預(yù)測(cè)量、定制測(cè)量、掃描測(cè)量、時(shí)間依賴測(cè)量等豐富的測(cè)量模式。




      ▌ 產(chǎn)品功能

      □ 效率參數(shù):發(fā)光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等;

      □ 電學(xué)參數(shù):電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率(W)、電功率密度等;

      □ 輻射度學(xué):光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)等;

      □ 色度學(xué):CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫(CCT)、MK-1(mred)、顯色指數(shù)(CRI)、RGB 顏色值等;

      □ 穩(wěn)定性測(cè)試。

      ■ 包含測(cè)量模式

      √ 電壓掃描(含分段掃描、循環(huán)掃描等);

      √ 電流掃描(含分段掃描、循環(huán)掃描等);

      √ 恒壓?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量;

      √ 恒流單點(diǎn)測(cè)量;

      √ 穩(wěn)定性測(cè)量:不同老化時(shí)間下測(cè)量。




       產(chǎn)品應(yīng)用

      □ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管(QLED)

      □ 有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)

      □ 發(fā)光二極管(LED)

      □ 鈣鈦礦發(fā)光二極管(PeLED)

      □ 其它各種類型的電致發(fā)光器件等




      ▌ 規(guī)格型號(hào)

      電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng)
      系列HiYield-EL
      光譜儀
      *光譜范圍210-980nm225-1000nm350-1050nm900-1700nm
      探測(cè)器制冷CCD
      系統(tǒng)信噪比1000:1
      A/D分辨率16/18 bit
      光學(xué)分辨率0.14-7.7 nm FWHM
      動(dòng)態(tài)范圍85000(典型)
      雜散光<0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm
      源表
      電壓范圍-210V~210V
      電流范圍-1.05A~1.05A
      *分辨率1pA / 100nV10fA-10nV
      積分球
      *材料Spectralon、PTFESpectraflect、BaSO4
      *內(nèi)徑3.3 / 6 / 10 / 15 inch可選
      *反射率4001500 nm,大于99%97%@600 nm 97-98%95%
      軟件
      測(cè)量模式?電壓掃描(含分段掃描、循環(huán)掃描等);
      ?電流掃描(含分段掃描、循環(huán)掃描等);
      ?恒壓?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量;
      ?恒流單點(diǎn)測(cè)量;
      ?穩(wěn)定性測(cè)量:不同老化時(shí)間下測(cè)量。
      功能參數(shù)類別?效率參數(shù)(外量子效率、電流效率、功率效率等);
      ?電學(xué)參數(shù):電壓(V)、電流(I)、電流密度(J)、電功率(W)、電功率密度等;
      ?輻射度學(xué):光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)等;
      ?色度學(xué):CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫(CCT)、MK-1mred)、顯色指數(shù)(CRI)、RGB顏色值等;
      ?穩(wěn)定性測(cè)試。
      測(cè)量夾具
      *定制夾具根據(jù)客戶樣品封裝設(shè)計(jì)夾具

      *該產(chǎn)品或參數(shù)可根據(jù)客戶需求靈活配置




      ▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)







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