智能制造網(wǎng)>產(chǎn)品庫>儀器儀表>分析儀器>光譜儀>>電致發(fā)光測量儀/IVL/器件壽命測試系統(tǒng)

電致發(fā)光測量儀/IVL/器件壽命測試系統(tǒng)

參考價	￥ 1
訂貨量	≥1臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱東譜科技（廣州）有限責任公司
品牌ORIENTAL SPECTRA
型號NovaLum
所在地廣州市
廠商性質其他
更新時間2024/9/6 14:50:18
訪問次數(shù)486

產(chǎn)品標簽:

電致發(fā)光測試儀電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)光譜功率分布（λ）測量系統(tǒng)電功率密度測量系統(tǒng)發(fā)光特性測試系統(tǒng)

在線詢價收藏產(chǎn)品點擊查看電話

聯(lián)系我們時請說明是智能制造網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!

索取相關資料

公司介紹主營產(chǎn)品

東譜科技（廣州）有限責任公司是一家專業(yè)的光譜學類科研設備以及技術方案服務商。公司位于廣州市天河區(qū)核心商圈，坐落于天河軟件科技園（長興智匯園區(qū)），毗鄰華南理工大學等高校。東譜科技由高校專業(yè)研究人員、行業(yè)工程師聯(lián)袂發(fā)起，核心團隊成員均獲得光機電類碩博士學位并且在國際實驗室及企業(yè)具有超過5-10年的研發(fā)經(jīng)驗，擁有出色的光電子前沿科學研究及光機電產(chǎn)品開發(fā)的實力。公司業(yè)務涵蓋光譜學設備研制、生產(chǎn)、銷售、技術服務等方面。目前，主營業(yè)務包括以下四個方面：1）科研儀器開發(fā)；2）科研儀器經(jīng)銷；3）前沿光譜學系統(tǒng)定制；4）譜學測量服務。已研制出一系列光譜檢測系統(tǒng)，為華南師范大學、華南理工大學等眾多高?？蛻籼峁┝烁鞣N完善的解決方案和大量的符合要求的產(chǎn)品和服務。公司秉承“Born for Science”的理念創(chuàng)立，堅持把產(chǎn)品開發(fā)和前沿光譜學研究相結合，致力于為研究人員提供更好的譜學儀器及技術服務。公司在營銷和服務體系上始終堅持“以終端客戶為中心”的理念，堅決以滿足一線科研人員的需求作為首要目標，力求為研究人員提供專業(yè)的服務和優(yōu)秀的產(chǎn)品。

展開顯示更多內(nèi)容

產(chǎn)品簡介在線詢價

電致發(fā)光測量儀NovaLum包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，適用于電致發(fā)光樣品電致發(fā)光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩(wěn)定性、發(fā)光角度分布等相關性能參數(shù)的精確測量。

電致發(fā)光測量儀/IVL/器件壽命測試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品關鍵詞：電致發(fā)光測試儀、電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)、外量子效率測量系統(tǒng)、光譜功率分布（λ）測量系統(tǒng)、電功率密度測量系統(tǒng)、發(fā)光特性測試系統(tǒng)、電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)、光電特性測試、量子產(chǎn)率測量儀、積分球光譜測試儀、外量子效率（EQE）測量系統(tǒng)、發(fā)光特性測量儀、有機發(fā)光二極管綜合性能測試系統(tǒng)、量子效率測試系統(tǒng)

Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescent quantum efficiency measurement system, external quantum efficiency measurement system, Spectral Power distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, luminescence characteristic test system, electroluminescent quantum efficiency test system, luminescent quantum Yield measurement system, photoelectric characteristic test, quantum yield measurement instrument, integrating sphere spectrum tester, external quantum efficiency (EQ E) Measurement system, luminescence characteristic measuring instrument, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute external quantum efficiency, quantum efficiency test system

▌ 產(chǎn)品簡介

電致發(fā)光測量系統(tǒng)NovaLum是東譜科技HiOE穩(wěn)態(tài)綜合光電特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發(fā)光樣品的性能進行精確測量。該系統(tǒng)包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，可以便捷、快速地得到電致發(fā)光器件全面的性能參數(shù)，如電致發(fā)光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學、色度學、穩(wěn)定性、發(fā)光角度分布等相關性能參數(shù)。該設備很好地解決了行業(yè)上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用于易老化器件的測試，也不適宜用于寬亮度范圍的器件測試；（2）利用積分球系統(tǒng)測試時，無法得到準確的前向亮度參數(shù)，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強發(fā)光樣品進行測試等的問題。

▌ 產(chǎn)品特點

□ 可以得到準確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點LED、顯示屏等面光源的測量。

□ 配備自動化的角度分辨測試功能，可以快速得到樣品發(fā)光的空間分布特性。

□ 配備了穩(wěn)定性測試功能，進行老化測試，具有寬的亮度檢測范圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）。

□ 可以進行各種環(huán)境的測試，如氣體氛圍、器件不封裝轉移測試等，同時可以實現(xiàn)手套箱內(nèi)快速換樣測試。

□ 配備自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換等系統(tǒng)，可以極大地提升測試效率。

▌ 產(chǎn)品功能

□ 多種掃描模式：電壓掃描、電流掃描、角度掃描、時間掃描。

□ 分段循環(huán)電流、電壓掃描：可以研究器件的遲滯效應等。

□ 實時測量：可以實時單點測量，靈活判斷器件的工作情況。

□ 兩線/四線測量：四線測量可更加準確地測量器件的電流電壓。

□ 自動切換器件：通過軟件選擇測量的子器件。

□ 自動積分時間：避免因為亮度過低導致測不出信號、或亮度過高導致的過曝的問題。

□ 配備可視化實時觀察及位移系統(tǒng)：在軟件中可以實時觀察到器件的表面發(fā)光情況，可軟件操作對焦。

□ 自動保存數(shù)據(jù)：測量過程中自動保存數(shù)據(jù)，避免數(shù)據(jù)丟失等狀況。

▌ 規(guī)格參數(shù)

亮度測量		光譜測量
亮度范圍	0.01~9,999,000 cd/m^2	波長范圍	200-850nm 或者 350-1000nm
測試角	1/3°	積分時間	4 ms - 10 s
視角	9°	動態(tài)范圍	1300:1
相對光譜敏感度	匹配 CIE 光譜發(fā)光效率函數(shù) V (λ)	校準線性度	>99.8%
最小測量面積 ?	4.5 mm (0.4mm)	光學分辨率	~1.5 nm (FWHM)
最短測量距離	1012mm (213mm)	電流電壓測量
測量時間	AUTO：0.7~4.3 s	電壓范圍/分辨率	-210V~210V/100nV
測量時間	MANUAL：0.7~7.1 s	電流范圍 /分辨率	-1.05A~1.05A/1pA