GOM Tritop拍照式光學(xué)掃描儀
創(chuàng)新技術(shù)
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組件輕便整套儀器箱共重23公斤
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無磨耗不會(huì)降低精度
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量測大小不設(shè)限測量過程中無須接觸被測物體
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易于使用無須複雜操作
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高精度3D測量大型物體也能確保高品質(zhì) | 不受環(huán)境條件影響室內(nèi)室外都能使用 |
GOM Tritop拍照式光學(xué)掃描儀
特性
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像接觸式坐標(biāo)測量儀一樣,GOM TRITOP 能記錄任何特徵空間的坐標(biāo)及其方向: ?曲面點(diǎn)和截面 | 確定三維坐標(biāo)以后,測量系統(tǒng)會(huì)把測量結(jié)果轉(zhuǎn)換到部件坐標(biāo)系統(tǒng)中:?RPS |
用于不同任務(wù)的測量數(shù)據(jù)和對(duì)齊數(shù)據(jù):?CAD 比較 | 把實(shí)際測量數(shù)據(jù)與CAD 數(shù)據(jù)( IGES、VDA、STEP、Catia、ProE、UG ……)進(jìn)行比較,生成用戶熟悉的格式的測試報(bào)告:?假色圖示 |
GOM Tritop拍照式光學(xué)掃描儀
應(yīng)用
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