穩(wěn)健的設(shè)計
得益于MATRIX系列屢獲殊榮的設(shè)計,MATRIX的光學(xué)元件能夠得到的很好密封保護。即使工作在的環(huán)境下,準(zhǔn)直的 RockSolid™干涉儀和Digitect™ 檢測器電子元件也能確保優(yōu)質(zhì)光譜的獲取。盡管該儀器專為過程控制而設(shè)計,但由于其較小的體積,它同樣是實驗室應(yīng)用的理想之選。
MATRIX-MF具備布魯克的快速接頭設(shè)計(BQC),使得光纖探頭的連接與更換非常簡單并具有很好的重復(fù)性,從而提供穩(wěn)定的結(jié)果。可以通過多路轉(zhuǎn)換器的擴展,一臺儀器可監(jiān)測多達6個反應(yīng)器。
光纖探頭
衰減全反射(ATR)采樣技術(shù)和光導(dǎo)光纖的組合,增強了紅外光譜的應(yīng)用。光纖探頭的原位測量技術(shù),充分發(fā)揮出了具有豐富信息的中紅外光譜測量的優(yōu)勢。布魯克為您提供了大量可供選擇的探頭,包括專有的IN350-T金剛石ATR探頭,可以幫助您通過連接裝置進行原位分析。
紅外光纖探頭由雙反射ATR探頭端部和優(yōu)良性能的中紅外鹵化銀光纖構(gòu)成。
IN350-T:金剛石ATR光纖探頭
(Ø 6 mm),ATEX區(qū)域亦可使用IN351:微金剛石ATR光纖探頭
(Ø 3.17 mm)IN355:金剛石ATR光纖探頭
(Ø 6.3 mm)IN356-EX:金剛石ATR光纖探頭
(Ø 12 mm),ATEX區(qū)域亦可使用
其它 ATR 晶體(如硅)亦可使用
輕松實現(xiàn)過程集成
MATRIX-MF可作為實驗室的獨立系統(tǒng)使用。較小的占地面積使得能夠安裝在19英寸的標(biāo)準(zhǔn)機柜中。您可以通過各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)通信協(xié)議接口(如4-20 mA、OPC、Modbus、Profibus DP等)與之進行通訊連接,從而輕松實現(xiàn)過程系統(tǒng)的集成。
維護和驗證
OPUS 驗證程序(OVP)能夠利用內(nèi)置的自動化濾光輪執(zhí)行一系列性能測試。這些性能測試可以監(jiān)測儀器硬件的性能,判斷儀器運行狀態(tài)是否理想。MATRIX系列專為運行的可靠性和維護的方便性而設(shè)計,各個耗件均安裝在預(yù)先對準(zhǔn)的底座上,用戶無需對準(zhǔn)光學(xué)元件,即可進行快速更換。
MATRIX-MF 防爆
MATRIX-MF還擁有符合以下標(biāo)準(zhǔn)的ATEX防爆版本:
II 2G Ex px II T4 (T6
II (1) G [Ex op is T6] IIC