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ST2000薄膜測厚儀

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參考價

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱深圳微科泰儀器儀表有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時間2023/8/26 9:29:17
訪問次數(shù)165

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公司介紹主營產(chǎn)品

深圳微科泰儀器儀表有限公司，為精密測試儀器代理商，服務(wù)對象為半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)，PCB 生產(chǎn)行業(yè)及一般電鍍行業(yè)等，集經(jīng)營銷售、技術(shù)支持、售后服務(wù)于一體。主力經(jīng)銷美國 Thermo X射線鍍層測厚儀、韓國Micro Pioneer X射線鍍層測厚儀、日本精工SII X射線鍍層測厚儀、美國禾威WALCHEM自動加藥控制器、美國SCS離子污染測試儀等國外進(jìn)口儀器。自公司成立以來，公司本著“誠信經(jīng)營、客戶至上”的宗旨，建立了完善的銷售及優(yōu)質(zhì)技術(shù)服務(wù)體系，在行業(yè)中贏得了優(yōu)良的口碑！歡迎您合作產(chǎn)品，我們將竭誠為您服務(wù)。期待著能與您攜手并進(jìn)，一起為中國的發(fā)展做出自己的努力，共創(chuàng)美好明天！以下是我司銷售的部分產(chǎn)品：一、韓國micro pioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀（銷售、維修保養(yǎng)服務(wù)）二、美國 Thermo ZXR、LXR、GXR系列X射線鍍層測厚儀（銷售、維修保養(yǎng)服務(wù)）三、德國宏德X射線鍍層測厚儀（銷售、維修保養(yǎng)服務(wù)）四、進(jìn)口鍍層膜厚標(biāo)準(zhǔn)片（Au、Ni、Ag、Sn、Zn、Cu、Cr）五、美國禾威WALCHEM自動加藥控制器1、化學(xué)鍍鎳自動加藥控制器 WNI310/4102、化學(xué)鍍銅自動加藥控制器 WCU310/4103、電導(dǎo)率檢測自動加藥控制器 WEC310/4104、PH/ORP檢測自動加藥控制器 WPH(ORP)310/410六、日本KYORITSU水質(zhì)離子測試包七、美國OMEGA 600SMD離子污染測試儀八、美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品九、中國臺灣milum PCB表銅、孔銅測厚儀 1、mm610手持式PCB孔銅測厚儀2、mm125 手持式PCB銅箔檢測儀3、mm805桌上型雙功能孔面銅厚測厚儀

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銅離子檢測儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

描述：儀器簡介：SpectraThick,K-MAC公司的薄膜厚度測量系統(tǒng)，采用的是光學(xué)技術(shù)方法

ST2000薄膜測厚儀產(chǎn)品信息

描述：

儀器簡介：

Spectra Thick, K-MAC公司的薄膜厚度測量系統(tǒng)，采用的是光學(xué)技術(shù)方法。在薄膜的表面利用反射光和在下部的界面反射的光之間的干涉現(xiàn)象或是利用光的相位差來決定薄膜的性質(zhì)。這樣我們不但可以測量薄膜厚度還可測量光學(xué)常數(shù)。如果是透明薄膜且可維持光的干涉性，用ST系列可測量任何樣品。通過數(shù)學(xué)計算多層薄膜的每個層的厚度都可測量。由于采用的是用戶友好界面，操作十分簡單。樣品不會受到損害，并可快速測量從Å到數(shù)十㎛的大范圍厚度。

技術(shù)參數(shù)：

測量方法：非接觸式
測量原理：反射計
類型：手動的
平臺尺寸： 4" （可選6" ）
活動范圍：150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離)
測量范圍：200Å~ 35㎛(根據(jù)膜的類型)
光斑尺寸：20㎛典型值（可選10㎛、50㎛）
測量速度：1~2 sec./site
物鏡轉(zhuǎn)換器：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明類型：12V 35W Tungsten-Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
尺寸：190 x 265 x 316 mm
重量：12Kg
探頭類型：三目探頭
可供選擇：標(biāo)準(zhǔn)樣品(K-MAC or KRISS or NIST)

應(yīng)用領(lǐng)域：

半導(dǎo)體：Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS + Si, Ge, SiGe...
介質(zhì)材料：SiO2, TiO2, TaO5, ITO, ZrO2, Si3N4, Photoresist, ARC,...
平板行業(yè)：(包括 LCD, PDP, OLED, ): a-Si, n+-a-Si, Gate-SiNx MgO, AlQ3 , ITO, PR, CuPc, NPB, PVK, PAF, PEDT-PSS, Oxide, Polyimide...
光學(xué)涂層：硬度涂層、增反射薄膜、Color Filters、封裝與功能薄膜...
太陽能電池： Doping a-Si(i-type, n-type, p-type), TCO(ZnO, SnO, ITO..)
聚合物：PVA, PET, PP, Dye, Npp, MNA, TAC, PR...
Recordable materials: Photosensitive drum, Video head, Photo masks, Optical disk
其他：示波管上的光阻薄膜材料與掩膜板、金屬薄膜、激光鏡...　　　　　　　　　　　　　　　　　　　

主要特點：

測量迅速，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
優(yōu)秀的重復(fù)性和再現(xiàn)性
用戶易操作界面
每個影像打印和數(shù)據(jù)保存功能
可測量多達(dá)3層
可背面反射

關(guān)鍵詞：轉(zhuǎn)換器