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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊

      帶有TFM/FMC全聚焦的OMNISCAN X3超聲波相控陣探傷儀

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱增宜檢測技術(shù)(上海)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2023/6/12 8:53:11
      • 訪問次數(shù)278
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      增宜檢測技術(shù)(上海)有限公司是一家專注于無損檢測設(shè)備,理化分析計量儀器,實驗室科研器材銷售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多國際上享譽的品牌*產(chǎn)品。 我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光測量儀、X射線機、平板探測器、磁粉探傷機、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設(shè)備。 我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、、特檢和高??蒲械榷鄠€行業(yè)領(lǐng)域,并贏得了廣大用戶的良好口碑。 公司秉承“至信卓業(yè),客戶至上”的經(jīng)營宗旨,崇尚“專業(yè),高效,共贏”的服務(wù)理念,為廣大客戶提供的產(chǎn)品,優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長期且最可信賴的合作伙伴。
      點擊下載產(chǎn)品說明書什么是全聚焦數(shù)據(jù)采集過程:FullMatrixCapture(FMC),即全矩陣采集
      帶有TFM/FMC全聚焦的OMNISCAN X3超聲波相控陣探傷儀 產(chǎn)品信息
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      什么是全聚焦
      數(shù)據(jù)采集過程: Full Matrix Capture(FMC),即全矩陣采集。
      通過順序激發(fā)相控陣探頭中的每一個晶片,并在接收端讓所有晶片都接收信號此次激發(fā)發(fā)射回來的信號。
      6個晶片的FMC全矩陣采集,會得到6x6=36個A掃原始信號,因而如果是一個64晶片的FMC全矩陣采集將得到64x64=4096個A掃信號。 
      數(shù)據(jù)分析方法: Total Focusing Method(TFM),即全聚焦方法。 

      主機配置
      全聚焦:
      - 需要更快的脈沖重復(fù)頻率(PRF): 20kHz
      - 需要更大的單文件存儲能力: 25GB
      - 需要更高的屏幕分辨率: 1280x768像素
      PAUT:
      - 脈沖重復(fù)頻率(PRF): 10kHz
      - 單文件存儲能力: 300MB
      - 屏幕分辨率: 800x600像素

      探頭配置
      全聚焦: 線陣探頭為主 PAUT: 線陣、圓弧晶片、雙晶矩陣、雙線陣、水浸等

      檢測方式及掃查器配置
      全聚焦:以直接接觸式或者帶硬質(zhì)楔塊檢測為主 PAUT:可使用直接接觸式,硬質(zhì)楔塊式,局部水浸式或者全水浸方式等

      聲束覆蓋比較
      全聚焦:由于全聚焦產(chǎn)生的是球面波,且在整個檢測設(shè)置區(qū)域內(nèi)(紅色框) 進(jìn)行波束合成,因而不存在聲束覆蓋問題。
      PAUT:根據(jù)偏轉(zhuǎn)角度范圍(例如40~75°) 產(chǎn)生了聲束覆蓋范圍,而且聲束覆蓋范圍分為一次波覆蓋和二次波覆蓋。

      缺陷顯示及評價比較
      S視圖顯示方式
      全聚焦:
      - 全部采用正視圖,即使使用如TTT, TTTT等模式,最終呈現(xiàn)的也是正V型坡口視圖。
      - 視圖顯示為矩形框圖顯示(斜角度全聚焦檢測)。
      PAUT:
      - 如果使用二次波, 則在二次波區(qū)域顯示的圖像為倒視圖,即最終呈現(xiàn)的是倒置的V型坡口視圖。
      - 視圖顯示為扇形顯示(斜角度扇掃檢測) 

      C & B視圖顯示方式
      全聚焦:全部為校正C視圖和B視圖 PAUT: 為未校正C視圖和B視圖

      缺陷顯示效果比較
      全聚焦:缺陷顯示效果更加接近真實缺陷形狀。
      PAUT:在非聚焦區(qū)域,缺陷信號可能會被拉長放大,甚至缺陷無法顯示。

      檢測應(yīng)用比較
      V型坡口焊縫檢測
      全聚焦: 結(jié)合多模式組合可以發(fā)現(xiàn)更多缺陷,其中4T模式可以發(fā)現(xiàn)自己一側(cè)未熔合缺陷, TT模式可以發(fā)現(xiàn)對側(cè)未熔合缺陷。
      PAUT: 二次波可以發(fā)現(xiàn)自己一側(cè)未熔合,但由于一次波角度范圍有限,除了幾何反射信號,未發(fā)現(xiàn)對側(cè)未熔合缺陷。

      螺栓腐蝕檢測
      全聚焦:腐蝕缺陷信號更加清晰真實 PAUT: 腐蝕缺陷信號可見。

      電熔PE管檢測
      全聚焦: 電阻絲信號清晰可見。 PAUT: 電阻絲信號清晰可見。

      腐蝕檢測
      全聚焦:腐蝕形貌清晰可見, 細(xì)節(jié)完整。 PAUT: 腐蝕形貌清晰可見, 細(xì)節(jié)比全聚焦略有差異。

      密集氣孔缺陷檢測
      全聚焦: 6個密集氣孔可以全部發(fā)現(xiàn),氣孔形貌清晰完整。 PAUT: 6個密集氣孔可以全部發(fā)現(xiàn),個別氣孔形貌略有變形。 、

      縱焊縫COD檢測
      全聚焦: 可以形成COD焊縫截面顯示 PAUT: 因為同時使用一次波和二次波,無法顯示COD焊縫截面信息,可以看到厚度界面信息。 

      鐵路車軸檢測檢測
       
      全聚焦: 可以發(fā)現(xiàn)缺陷,且垂直刻槽缺陷的方向與真實刻槽缺陷方向相同, 壓裝信號不明顯。
      PAUT: 壓裝信號明顯,可發(fā)現(xiàn)刻槽缺陷信號。
       



      關(guān)鍵詞:數(shù)據(jù)采集
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