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JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱艾普斯卡（北京）設(shè)備有限公司
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廠商性質(zhì)其他
更新時間2023/4/15 9:10:20
訪問次數(shù)337

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公司介紹主營產(chǎn)品

艾普斯卡是一家高科技儀器設(shè)備公司，專注化學(xué)設(shè)備、材料設(shè)備、電池設(shè)備、致力于質(zhì)量控制與分析、智能科技產(chǎn)、品的推廣及應(yīng)用。公司創(chuàng)建于2019年，在中國擁有多個銷售聯(lián)絡(luò)處，多個維修服務(wù)中心，多個示范實(shí)驗(yàn)室，近百名員工以及眾多的國內(nèi)外合作伙伴。公司旗下已經(jīng)擁有一系列專業(yè)而完整的分析儀器及智能科技產(chǎn)品線，強(qiáng)大的銷售網(wǎng)絡(luò)、廣泛的市場覆蓋及完善的售后服務(wù)，旨在為中國區(qū)用戶提供優(yōu)良的技術(shù)和解決方案。艾普斯卡一向秉承認(rèn)真嚴(yán)謹(jǐn)，服務(wù)至上的原則，以優(yōu)質(zhì)專業(yè)的快捷服務(wù)，享譽(yù)政府質(zhì)檢部門、高?？蒲袡C(jī)構(gòu)以及環(huán)保、化工、地礦、鑄造、機(jī)械等行業(yè)。艾普斯卡擁有經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)的專家隊(duì)伍、業(yè)務(wù)嫻熟的技術(shù)工程師和訓(xùn)練有素的銷售人員，無論現(xiàn)在還是將來，艾普斯卡都將為您提供設(shè)計(jì)良好、性能*的產(chǎn)品以及及時、周到的售前、售后服務(wù)。我們堅(jiān)信，艾普斯卡是您可靠和信賴的伙伴，您的需要就是我們的工作！如果您想更多地了解利曼中國的產(chǎn)品及服務(wù)，歡迎瀏覽我們的或直接與我們聯(lián)系。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)

JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡產(chǎn)品信息

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.cn/場發(fā)射透射電鏡JEM-F200

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。

外觀設(shè)計(jì)精煉

精煉的外型，全新的視覺感受。

為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI，使操作更加直觀方便。

JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn)，與舊機(jī)型相比，電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。

四級聚光鏡系統(tǒng)

現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術(shù)。該設(shè)備采用新型四級聚光鏡照射光學(xué)系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system”，通過分別控制電子束強(qiáng)度和匯聚角，能滿足各種研究的需求。

掃描系統(tǒng)

JEM-F200可以實(shí)現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析，該設(shè)備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System” 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能（選配）。

皮米樣品臺驅(qū)動

JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive（不用壓電驅(qū)動），能在寬動態(tài)范圍移動視野-從樣品的整個柵網(wǎng)視野移動到原子級圖像視野移動都能進(jìn)行。

SpecPorter（自動插入和拔出樣品桿的裝置）

插入和拔出樣品桿，對電鏡初學(xué)者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在的位置上，只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。

改進(jìn)的冷場發(fā)射電子槍

JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍（選配），該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析，高亮度的電子束縮短了分析時間，并且還降低了來自光源的色差，實(shí)現(xiàn)了高分辨率的觀察。

雙能譜（SDD）

JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器（SDD）（選配件）。憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對樣品的損傷更小。

環(huán)保節(jié)能

JEM-F200是個標(biāo)配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時的1/5，可以在裝置不運(yùn)行時，以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設(shè)備具有排程功能，能在的時間將電鏡從ECO模式恢復(fù)到工作狀態(tài)。