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      JSM-IT800 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱(chēng)艾普斯卡(北京)設(shè)備有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2023/4/15 8:58:43
      • 訪問(wèn)次數(shù)712
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      艾普斯卡是一家高科技儀器設(shè)備公司,專(zhuān)注化學(xué)設(shè)備、材料設(shè)備、電池設(shè)備、致力于質(zhì)量控制與分析、智能科技產(chǎn)、品的推廣及應(yīng)用。公司創(chuàng)建于2019年,在中國(guó)擁有多個(gè)銷(xiāo)售聯(lián)絡(luò)處,多個(gè)維修服務(wù)中心,多個(gè)示范實(shí)驗(yàn)室,近百名員工以及眾多的國(guó)內(nèi)外合作伙伴。公司旗下已經(jīng)擁有一系列專(zhuān)業(yè)而完整的分析儀器及智能科技產(chǎn)品線(xiàn),強(qiáng)大的銷(xiāo)售網(wǎng)絡(luò)、廣泛的市場(chǎng)覆蓋及完善的售后服務(wù),旨在為中國(guó)區(qū)用戶(hù)提供優(yōu)良的技術(shù)和解決方案。艾普斯卡一向秉承認(rèn)真嚴(yán)謹(jǐn),服務(wù)至上的原則,以?xún)?yōu)質(zhì)專(zhuān)業(yè)的快捷服務(wù),享譽(yù)政府質(zhì)檢部門(mén)、高校科研機(jī)構(gòu)以及環(huán)保、化工、地礦、鑄造、機(jī)械等行業(yè)。艾普斯卡擁有經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)的專(zhuān)家隊(duì)伍、業(yè)務(wù)嫻熟的技術(shù)工程師和訓(xùn)練有素的銷(xiāo)售人員,無(wú)論現(xiàn)在還是將來(lái),艾普斯卡都將為您提供設(shè)計(jì)良好、性能*的產(chǎn)品以及及時(shí)、周到的售前、售后服務(wù)。我們堅(jiān)信,艾普斯卡是您可靠和信賴(lài)的伙伴,您的需要就是我們的工作!如果您想更多地了解利曼中國(guó)的產(chǎn)品及服務(wù),歡迎瀏覽我們的 或直接與我們聯(lián)系。
      JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析,能夠滿(mǎn)足客戶(hù)的各種需求。該裝置配備浸沒(méi)式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導(dǎo)航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。
      JSM-IT800 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

      特性

      JSM-IT800 整合了我們用于從高分辨率成像到快速元素分析的“浸沒(méi)式肖特基 Plus 場(chǎng)發(fā)射電子槍”、創(chuàng)新的電子光學(xué)控制系統(tǒng)“Neo Engine”以及無(wú)縫 GUI 系統(tǒng)“SEM Center”,該系統(tǒng)采用一體化 JEOL X 射線(xiàn)能量色散譜儀 (EDS) 作為通用平臺(tái),進(jìn)行快速元素分析。

      JSM-IT800 允許物鏡作為一個(gè)更換模塊,提供不同的版本以滿(mǎn)足各種用戶(hù)需求。JSM-IT800 有五種版本,提供不同的物鏡:混合型物鏡 (HL),這是一種通用 FE-SEM;超級(jí)混合物鏡(SHL/SHLs,具有不同功能的兩種版本),可實(shí)現(xiàn)更高分辨率的觀察和分析;以及新開(kāi)發(fā)的半浸沒(méi)式物鏡(i/is,具有不同功能的版本),適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。

      此外,JSM-IT800 還可以配備新型閃爍體背散射電子探測(cè)器 (SBED) 和多功能背散射電子探測(cè)器 (VBED)。SBED 支持以高響應(yīng)性獲取圖像,即使在低加速電壓下也能產(chǎn)生清晰的成分襯度,而 VBED 可以幫助獲取 3D、形貌和成分襯度的圖像。因此,JSM-IT800 可以幫助用戶(hù)獲取豐富多樣德 信息并解決測(cè)量中的問(wèn)題。


      ■ 視頻介紹

      ◆點(diǎn)擊下面按鈕,開(kāi)始播放◆


      1.   浸沒(méi)式肖特基Plus場(chǎng)發(fā)射電子槍

      集成的浸沒(méi)式肖特基Plus電子槍和低像差聚光透鏡可實(shí)現(xiàn)高亮度。即使低加速電壓下也能獲得充足的探針電流(100nA@5kv), 這可幫助用戶(hù)在對(duì)SEM參數(shù)進(jìn)行微小調(diào)整的情況下,進(jìn)行高分辨觀察、高速元素面分析、EBSD分析、軟X射線(xiàn)分析。

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      2.  Neo Engine(New Electron Optical Engine)
      配備本公司電子光學(xué)技術(shù)精華的新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng),可在調(diào)整各種參數(shù)的同時(shí)進(jìn)行穩(wěn)定的觀察。此外,該系統(tǒng)還具有增強(qiáng)的自動(dòng)功能,更易于使用。

      AFS  ACB

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      樣品:碳基納米錫粒子
      入射電壓:15kV,WD:2mm,觀察模式:BD,檢測(cè)器:UED, 倍率:x200,000


      3.  SEM Center / EDS一體化

      操作導(dǎo)航“SEM Center”與本公司生產(chǎn)的EDS進(jìn)行了全面集成,更易于操作。此外,還配備了Smile Navi(可選),可以幫助新手了解如何操作SEM,LIVE - AI (Live Image Visual Enhancer-AI)(可選),可輕松查看實(shí)時(shí)圖像;及SMILE VIEWTM Lab,用于快速生成報(bào)告。

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      4.  LIVE-AI Filter
      利用AI功能,整合LIVE-AI Filter以實(shí)現(xiàn)更高質(zhì)量的實(shí)時(shí)圖像。與圖像集成處理不同,這樣可以顯示無(wú)殘留圖像的無(wú)縫移動(dòng)實(shí)時(shí)圖像。這一功能對(duì)于快速搜索觀察區(qū)域、聚焦和像散調(diào)整非常有效。


      實(shí)時(shí)圖像比較

      樣品:螞蟻外骨骼,入射電壓:0.5kV,SED檢測(cè)器

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      樣品: 鐵銹, 入射電壓:1kV,SED檢測(cè)器

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      5.  HL/HLs(Hybrid Lens)、 SHL/SHLs(Super Hybrid Lens)、i/is (Semi-in-Lens)

      JSM-IT800 系列了提供多種物鏡可供選擇,以滿(mǎn)足用戶(hù)的多種需求。

      HL 版本和 SHL 版本(包括 SHLs 版本)配備了電磁/靜電場(chǎng)疊加物鏡。可以對(duì)從金屬到納米材料的各種樣本進(jìn)行高分辨率觀察和分析,特別適用于磁性材料的觀察和分析,例如 EBSD 分析。

      i 版本和 is 版本都配備了半浸沒(méi)式物鏡,非常適合對(duì)傾斜和橫截面樣本進(jìn)行高分辨率觀察和分析,這是半導(dǎo)體器件故障分析的要素。此外,它還適用于使用高位透鏡內(nèi)電子探測(cè)器 (UID) 進(jìn)行觀察。

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      6.  高位檢測(cè)器UHD (Upper Hybrid Detector)
      SHL物鏡里標(biāo)配高位檢測(cè)器,可高效檢測(cè)樣本中的電子,從而獲得高S/N的圖像。

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      SHL 觀察舉例

      1.  氧化鋁顆粒  二次電子像

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      入射電壓0.5kV, 檢測(cè)器:UHD

      可以觀察顆粒表面的階梯結(jié)構(gòu),能清楚地看到納米尺度的階梯。


      2. 鋁勃姆石和纖維素納米纖維CNF

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      樣本:IC芯片橫截面(表面蝕刻,鋨鍍層)


      入射電壓:5.0kV(無(wú)BD模式),SHL觀察模式,探測(cè)器:UHD、UED(BSE模式)

      HL 觀察舉例

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      i/is version 觀察舉例

      1. 光催化顆粒  二次電子像

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      JSM-IT800(i) UED檢測(cè)器     樣品提供:東京大學(xué) 特聘教授 堂免 一成

      這種光催化劑使水分解反應(yīng)的量子效率接近 99%。高分辨率 SE 圖像清楚地顯示:尺寸小于 10 nm 的助催化劑顆粒優(yōu)先沉積在立方顆粒的 {100} 晶面上,以促進(jìn)析氫和析氧反應(yīng)。

      參考文獻(xiàn):T. Takata et. al., "Photocatalytic water splitting with a quantum efficiency of almost unity," Nature , 581, 411-414, 2020.


      2. 半導(dǎo)體器件(SRAM)內(nèi)部組成像、電位襯度像、凹凸像

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      觀察條件:入射電壓1kV,WD8mm,觀察模式SIL,檢測(cè)器UED、UID、SED,3種信號(hào)同時(shí)獲取

      7.  新型背散射電子檢測(cè)器
      閃爍體背散射電子檢測(cè)器(SBED、選配件)響應(yīng)性能*,適用于低加速電壓下材料襯度像的采集。多用途背散射電子檢測(cè)器(VBED、選配件)適用于3D、凹凸等特色圖像的采集。


      SBED觀察例

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      VBED觀察例

      VBED圖像.jpg

      VBED中不同方位的半導(dǎo)體元件接受不同角度的背散射電子。位于內(nèi)側(cè)的元件接受的電子主要反映樣品的成分信息,外側(cè)的主要反映其表面凹凸信息,且使用內(nèi)側(cè)半導(dǎo)體元件還能觀察處于AI鍍層深處的熒光物質(zhì)


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