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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊

      日立臺式電子顯微鏡 電鏡 TM4000/TM4000Plus

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2022/10/29 10:45:42
      • 訪問次數(shù)270
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      廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十多年來堅持服務(wù)于國內(nèi)實驗分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的。 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實驗室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮氫分析儀、碳硫分析儀等。 在儀德人的深耕細(xì)作下,客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運輸、機(jī)械制造、商檢、質(zhì)檢、環(huán)境保護(hù)、食品藥品和教學(xué)科研等各行各業(yè)。 目前,儀德科學(xué)儀器總部設(shè)在廣州,并在武漢、長沙、南寧、福州、深圳設(shè)有子公司和辦事處,業(yè)務(wù)范圍覆蓋華南區(qū)域。
      日立TM4000掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。
      日立臺式電子顯微鏡 電鏡 TM4000/TM4000Plus 產(chǎn)品信息

        日立臺式電鏡產(chǎn)品介紹

        日立TM4000掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納樣品直徑80mm,厚度50mm。

        TM4000Plus是在TM4000基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量。TM4000Plus可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進(jìn)行顯示,獲得最多的樣品信息??蛇x配附件豐富,擁有諸多附加功能。

        主要參數(shù)

        1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV(均四檔可調(diào))、EDX

        2. 放大倍率:10×~100000×

        3. 觀察模式:導(dǎo)體(TM4000Plus)、標(biāo)準(zhǔn)模式,消除電荷模式

        4. 探測器:4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器 (TM4000Plus)


        服務(wù)范圍:

        測試項目

        Test Item

        服務(wù)范圍

        Scope

        微觀形貌觀察

        根據(jù)客戶要求對樣品區(qū)域、形貌進(jìn)行觀察與分析,放大倍數(shù)<10,000倍;不能測試液體及易揮發(fā)物質(zhì)

        元素分析

        測量范圍/精度: Li3~Cf98

        適用范圍:高聚物、金屬、無機(jī)物、粉末等;

        定性半定量;

        不能測試液體及易揮發(fā)物質(zhì)

        斷面分析

        1. 針對斷裂樣品進(jìn)行,使用光學(xué)顯微鏡和掃描電子顯微鏡進(jìn)行觀察

        2. 主要判斷斷裂方式(韌性、脆性)、裂紋源頭、延展方向等

        3. 報告中包含斷口圖片和分析結(jié)果,但無法判斷斷裂原因

        異物失效分析

        金屬腐蝕產(chǎn)物分析

        金屬鍍層析出物定性分析

        介質(zhì)污染異物類分析

        鍍層厚度及成分定性分析

        針對部分真空電鍍至0.8μm以下鍍層厚度,進(jìn)行SEM厚度測試,分辨率可達(dá)0.01μm;及多層鍍層線掃描成分分析


        應(yīng)用領(lǐng)域

        生命科學(xué)

        材料科學(xué)

        化學(xué)

        電子制造

        食品工業(yè)


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