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保證出眾性能的同時(shí)提升穩(wěn)定性樣品和研究的復(fù)雜程度日趨增加，在保持分析性能的同時(shí)獲得高質(zhì)量的目標(biāo)組分?jǐn)?shù)據(jù)面臨著更大的挑戰(zhàn)。 Xevo® G2-XS Tof結(jié)合StepWave™離子光學(xué)組件和XS碰撞室技術(shù)，保持著一如既往的良好選擇性，同時(shí)帶來靈敏度的顯著提升。長時(shí)分析期間，關(guān)鍵的硬件組件可持久保持潔凈，為您提供更重現(xiàn)性的結(jié)果，保證實(shí)驗(yàn)室生產(chǎn)效率。 分析大量樣品時(shí)，可獲取比以往更多、更有意義的組分信息，幫助您全面深入了解樣品，制定更可靠的決策。 |
十分全面的高質(zhì)量定性信息本系統(tǒng)可在短時(shí)間內(nèi)收集充分了解樣品所需的詳盡、準(zhǔn)確的各目標(biāo)組分定性及定量信息，完整展現(xiàn)出現(xiàn)代分離技術(shù)的優(yōu)勢。 MSE方法雖然簡單，但功能強(qiáng)大，無論可檢測組分在色譜上是否可分離，此方法都能夠確定出精確的母離子質(zhì)量數(shù)和碎片離子數(shù)據(jù)，為您帶來更優(yōu)質(zhì)的定性信息，這些數(shù)據(jù)還將提供準(zhǔn)確的定量信息。由于該方法無靶向性，因此隨著科學(xué)問題的發(fā)展，您可在以后重新查詢使用這些數(shù)據(jù)。 |
zoom | 靈活應(yīng)對多變需求實(shí)驗(yàn)室對效率和產(chǎn)量的日益重視對分析系統(tǒng)提出了更高的要求，不僅需要系統(tǒng)具備良好的耐用性和可靠性，也應(yīng)當(dāng)能夠靈活應(yīng)對現(xiàn)今的各種任務(wù)，才能在未來實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新發(fā)展。 沃特世通用型離子源結(jié)構(gòu)可以將單一分析平臺用于多種不同應(yīng)用和化合物類型，并可以根據(jù)需求和優(yōu)先情況的變化添加新的功能。所有的離子源選項(xiàng)經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn)快速互換，輕松完成使用前準(zhǔn)備，為您帶來全面的系統(tǒng)功能，大幅減少停機(jī)時(shí)間。 |
簡單易用，專業(yè)和非專業(yè)人士均可輕松上手通常，要使如此強(qiáng)大的分析系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)并保持優(yōu)異性能，往往需要具備一定的專業(yè)知識和經(jīng)驗(yàn)。 Xevo G2-XS Tof采用了的IntelliStart™技術(shù)，這一直觀的用戶界面可實(shí)現(xiàn)日常任務(wù)的自動化，保證了出色的可重現(xiàn)數(shù)據(jù)，確保所有人都可以使用系統(tǒng)的所有功能。IntelliStart可自動執(zhí)行以下基本功能：
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zoom | 可升級至完整的QTof全功能版本為應(yīng)對日益增長的需求與挑戰(zhàn)，Xevo G2-XS Tof可直接升級至QTof全功能版本，而對實(shí)驗(yàn)室的繁忙工作并不會產(chǎn)生多大影響。該升級操作可進(jìn)一步增強(qiáng)分析系統(tǒng)的分析性能與多功能性：
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