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沃特世SYNAPT XS高分辨率質(zhì)譜儀優(yōu)異分析性能增加峰容量和分析選擇性

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱蘇州洋嘉電子有限公司
品牌
型號
所在地蘇州市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2022/8/2 10:21:38
訪問次數(shù)290

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公司介紹主營產(chǎn)品

蘇州洋嘉電子有限公司致力于自動(dòng)化測試與測量領(lǐng)域，為客戶提供精密電子測量儀器、自動(dòng)化測試以及檢測認(rèn)證等測試解決方案。公司始終本著“以信為本,以質(zhì)取勝”的宗旨，著眼于市場需求，遠(yuǎn)矚，憑借多年來辛勤耕耘和守信的經(jīng)營，贏得了業(yè)界和顧客的和信任！公司產(chǎn)品應(yīng)用于消費(fèi)電子與家電、汽車與新能源、電源與照明、通訊與醫(yī)療等行業(yè)。客戶有中國航天，中廣核，中國船舶，中國兵器，國電南瑞，中汽研，博世汽車，東風(fēng)汽車，京東方，同濟(jì)大學(xué)，上海交大，西交大，蘇大，電科院等。

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測量儀器

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

沒有研究，就制定的決策，容易是盲目的在科研領(lǐng)域，研究進(jìn)展緩慢和成本不斷上升儼然已成為一項(xiàng)挑戰(zhàn)

沃特世SYNAPT XS高分辨率質(zhì)譜儀優(yōu)異分析性能增加峰容量和分析選擇性產(chǎn)品信息

沒有研究，就制定的決策，容易是盲目的

在科研領(lǐng)域，研究進(jìn)展緩慢和成本不斷上升儼然已成為一項(xiàng)挑戰(zhàn)。SYNAPT XS質(zhì)譜儀具有更好的靈活性，可提供更大的選擇自由度，能夠打破這些壁壘，支持任何應(yīng)用的科學(xué)創(chuàng)新和技術(shù)成功。
? 創(chuàng)新技術(shù)作為基石，提供十分優(yōu)異的分析性能
? SONAR和HDMSE提供一套的工具包，用于解析復(fù)雜混合物
? 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性
? CCS測量可提高化合物鑒定的準(zhǔn)確性

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創(chuàng)新技術(shù)提供更優(yōu)異的分析性能

憑借沃特世質(zhì)譜“SELECT SERIES”傳承下來的技術(shù)基石，內(nèi)置*的創(chuàng)新技術(shù)，確保使用該平臺(tái)的科學(xué)家處于質(zhì)譜分析的前沿，同時(shí)維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。

StepWave XS
重新設(shè)計(jì)的分段四極桿傳輸光學(xué)元件，提升棘手化合物的分析靈敏度，同時(shí)進(jìn)一步提高分析穩(wěn)定性。

Extended ToF
針對更復(fù)雜的樣品，提供兼容UPLC的質(zhì)量分辨率、耐受各種基質(zhì)的動(dòng)態(tài)范圍和定量分析結(jié)果，同時(shí)提供優(yōu)異的性能指標(biāo)。

更大的分析選擇自由度

為有效解決固有難題，分析人員對各種分析策略的需求不斷增加，因此，SYNAPT XS將高性能與出眾靈活性相結(jié)合。競爭對手的系統(tǒng)大多存在入口選項(xiàng)有限、掃描功能局限性或需要多個(gè)平臺(tái)等問題。與之相比，只有沃特世能夠提供的高性能LC-MS解決方案，該方案經(jīng)過專門設(shè)計(jì)，能夠提供更大的分析選擇自由度以支持科學(xué)研究。

zoom	SONAR和HDMSE提供了一套的工具包，用于解析復(fù)雜混合物完整的分析策略需要結(jié)合適當(dāng)?shù)幕パa(bǔ)技術(shù)才能得到更全面的數(shù)據(jù)信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據(jù)依賴型采集(DIA)操作模式，分析人員能夠利用互補(bǔ)機(jī)制，以優(yōu)秀的方式解析復(fù)雜混合物。兩種類型的采集均提高了分析峰容量，提供“清晰明了”的碎片數(shù)據(jù)，但它們基于不同的分子特性。這提供了一種真正的研究工具包，適用于深入解析復(fù)雜混合物。

離子淌度和CCS測量

傳統(tǒng)質(zhì)譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實(shí)驗(yàn)中，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù)，對分子進(jìn)行分離。除離子淌度能提供額外的分離維度、增加峰容量和分析選擇性以外，CCS測量還可提供額外的分子標(biāo)識。離子CCS的測量結(jié)果有助于確定離子名稱或研究其結(jié)構(gòu)。運(yùn)用離子淌度技術(shù)，顯著提高了科學(xué)家分析復(fù)雜混合物和復(fù)雜分子的范圍和可信度。

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zoom	CID與ETD碎裂功能 TriWave的雙碰撞室結(jié)構(gòu)可進(jìn)行碰撞誘導(dǎo)解離(CID)和/或電子轉(zhuǎn)移解離(ETD)碎裂，且分辨率高、質(zhì)量測定準(zhǔn)確，能夠拓展MS/MS檢測能力。高解析度四極桿包括4 KDa、8 KDa或32 KDa質(zhì)量數(shù)范圍，適用于從小分子到大分子的MS/MS分析

TAP碎裂

時(shí)間校準(zhǔn)平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS設(shè)計(jì)所的采集模式。它使用戶能夠利用TriWave配置，允許將IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作為兩個(gè)單獨(dú)的碰撞室運(yùn)行。得到的CID-IMS-CID儀器操作有助于對組分進(jìn)行超高可信度的結(jié)構(gòu)表征。TAP碎裂與傳統(tǒng)MSn或MS/MS技術(shù)相比，具備優(yōu)異的碎片離子覆蓋率、靈敏度和準(zhǔn)確性，在構(gòu)建完整結(jié)構(gòu)方面有著不容置疑的優(yōu)勢。

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關(guān)鍵詞：質(zhì)譜儀