工業(yè)步入式高溫老化房用途：

　　該老化房主要是針對汽車電子、通訊產品、PCB、消費電子等產品老化的壽命測試；電腦板、接口卡、插卡、手機電源產品的老化測試；機頂盒、高速公路、安防產品的燒機；需要經過集裝箱海運出口的產品老化（模擬集裝箱內的高溫環(huán)境）

　　工業(yè)步入式高溫老化房性能標準：

1)在美軍標MIL-STD-810D，4.4.1試驗條件允差中規(guī)定“試樣*被空氣包圍(必要的支承點除外)，試驗區(qū)測區(qū)測理系統的溫度和包圍試件各處的溫度梯度應分別在試驗溫度的±2℃以內和不超過每米1℃或總的zui大值為2.2℃(試件不運作)”此標準中用±2℃的溫度偏差和1℃/M的溫度梯度來要求箱內運作空間的溫度均衡性。
　　
　　2)在美軍標MIL-STD-202F，2.2.1及MIL-STD-883C，4.5.8中要求運作區(qū)空間內任一點的溫度，在給定時間內偏離基準點不超過±3℃(即為容許偏差)。
　　
　　3)在IEC68號出版物及GB2423中，對試驗箱運作空間的溫度均衡性要求以“容差”即對標稱溫度的容許偏差表述。對容差大小，在高溫箱中規(guī)定為±2℃，在低溫箱中規(guī)定為±3℃。
　　
　　4)在IEC68-2-3，2.1的注中“溫度±2℃的容差是由于考慮到有測量的誤差，緩慢的溫度變化和運作空間的溫度波動度等”。在IEC216號出版物第四篇老化烘箱中，定義“溫度偏差”是“由于溫度波動度和溫度梯度組合而成的誤差”。
　　
　　5)GB／T5170•21996《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備》，規(guī)定“溫度偏差”為試驗箱溫度性能指標的*檢定項目。溫度偏差的檢定方法是：當運作空間指示點溫度*次達到標稱溫度后穩(wěn)定2h。測量各測試點溫度，每2min記錄一次各點的溫度，在30min內共測量15次。運作空間各測試點的實測zui高溫度和實測zui低溫度與標稱溫度的上、下偏差定為設備在該標稱溫度下的溫度偏差。