產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流(Eddy Current)測(cè)試技術(shù),能夠?qū)枇?、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。
無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-產(chǎn)品特點(diǎn)
■測(cè)試范圍廣,低阻可測(cè)至0.001ohm.cm,甚至0.0007ohm.cm,高阻可測(cè)至100ohm.cm
■產(chǎn)品體積小,便于移動(dòng)和攜帶
■采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率
■無(wú)接觸、無(wú)損傷快速測(cè)試
■測(cè)試前無(wú)需表面處理
■特別對(duì)于多晶,能夠有效避免晶界對(duì)測(cè)試的影響
■測(cè)試范圍:0.001-100 ohm.cm (分段測(cè)試)
■可選加無(wú)接觸PN型號(hào)測(cè)試功能
■可進(jìn)行溫度和厚度的修正
無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀-技術(shù)指標(biāo)
■ 硅棒硅塊可測(cè)量電阻率范圍:0.001-100Ohm.cm
■ zui小測(cè)試厚度:200μm
■ 測(cè)量時(shí)間:2秒/次
■ zui小測(cè)試面積:30x30 mm2
■ *使用溫度:20℃
■ 濕度:≤80%
■ 氣壓:86-106kPa
■ 使用電壓:230±10V
■ 頻率,50±3Hz
■ 功率消耗:≤5W
■ 尺寸(LxH):280x200x60mm
典型客戶
美國(guó),歐洲,亞洲及國(guó)內(nèi)太陽(yáng)能及半導(dǎo)體客