上海伯東美國(guó) inTEST ATS-535 集成空壓機(jī)的高低溫沖擊熱流儀, 高低溫測(cè)試范圍 -60 至 + 225°C, 為半導(dǎo)體功率器件 ( MOSFET, IGBT, SIC, GaN,車規(guī)級(jí)芯片…), 功率模塊, 功率集成電路, 智能傳感器等芯片研發(fā)提供高低溫測(cè)試解決方案.


inTEST ATS-535 高低溫沖擊熱流儀優(yōu)勢(shì)
集成空壓機(jī): 特別適用于對(duì)環(huán)境噪音有嚴(yán)格要求的寫字樓園區(qū)或研發(fā)環(huán)境, 省去重新評(píng)估空壓系統(tǒng)及配管的時(shí)間及人力成本, 解決了因?yàn)榄h(huán)境受限無(wú)法提供壓縮氣體的芯片高低溫測(cè)試難題.
移動(dòng)式設(shè)計(jì): 機(jī)動(dòng)性更強(qiáng)
溫度范圍廣: -60 至+ 225°C
整機(jī)節(jié)能設(shè)計(jì): 整機(jī)噪音 < 60 dBA (內(nèi)置空壓機(jī))
兼容市面上各品牌半導(dǎo)體測(cè)試機(jī), 滿足帶電時(shí)的芯片各類測(cè)試.
遠(yuǎn)程接口: IEEE.488, RS232; LabViewTM 驅(qū)動(dòng)

inTEST ATS-535 高低溫沖擊熱流儀基本參數(shù)

inTEST ATS-535 應(yīng)用場(chǎng)景


美國(guó) inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過(guò) NIST 校準(zhǔn). 通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. inTEST 熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國(guó) inTEST 中國(guó)總代理.
 

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