快速溫變試驗箱也稱環(huán)境應(yīng)力篩選試驗箱，主要適用于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗及應(yīng)力篩選（ESS）試驗，以便對試品在擬定環(huán)境條件下的性能、行為做出分析及評價；以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗時而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果；那快速溫變試驗箱在半導(dǎo)體行業(yè)是主要起到什么作用呢？一起來看看~

       快速溫度循環(huán)(TEB)測試是讓IC零件經(jīng)受*溫和極低溫之間，來回溫度轉(zhuǎn)換的可靠度測試，進行該測試時將IC零件重復(fù)暴露于這些條件下，經(jīng)過循環(huán)次數(shù)，過程被要求其升降溫的溫變速率(℃/min)，另外需確認溫度是否有效滲透到測試品內(nèi)部；

       本測試適用于受溫度影響的半導(dǎo)體元器件，過程中需要在高低溫差條件下，開啟或關(guān)閉測試電源，溫度循環(huán)還有電源測試，是確認元器件的承受能力，目的是模擬實際會遇到的最差狀況；很多測試半導(dǎo)體芯片的用戶選擇快速溫變應(yīng)力篩選試驗箱的溫變速率為5度線性/10度線性，溫變范圍是是-45~85度的居多，您也可以作為參考喲~