大家在做介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試的時(shí)候，對(duì)樣品選擇用什么樣的電極不是太了解，下面就由我來(lái)為大家簡(jiǎn)單介紹下：

固體絕緣材料測(cè)試電極制造成平板型帶保護(hù)電極的三端式電容器，可以在加壓、加溫及抽真空條件下，配以高壓電容電橋在工頻電壓下對(duì)各類(lèi)固體絕緣材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，電容紙等）的試品作介質(zhì)損耗因數(shù)（tgδ），相對(duì)介電常數(shù)（ε）的測(cè)量。配上高阻計(jì)還可測(cè)試體積電阻率（Pv）.

高壓電極直徑與表面積：￠98mm(75.43cm2)

測(cè)量電極直徑與表面積：￠50 mm(19.6 cm2)

電極材料 ：不銹鋼1Cr13Ni9Ti

電極工作面：精面面磨

電極間距：不大于6mm

電極加熱功率：約2*500瓦

電極最高溫度：200°C(配上FY120B型溫控儀，精度0.1°)

加熱時(shí)間： 30分鐘

電極壓力：0~~1.0Mpa連續(xù)可調(diào)

最大測(cè)量電壓：2000V，50Hz

真空度：電極可抽真空至3*10-2 Mpa

尺寸重量： 長(zhǎng)*寬*高400 mm*300 mm*400 mm，

重量：15Kg

本產(chǎn)品是依據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）和GB/T 5654-85《液體絕緣材料工頻相對(duì)介電常數(shù)、介質(zhì)損耗因數(shù)和體積電阻率的測(cè)量》仿進(jìn)口電橋設(shè)計(jì)制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。主要用于絕緣材料介質(zhì)損耗tgδ和介電常數(shù)ε的測(cè)試。

《JJG563-2004高壓電容電橋檢定規(guī)程》

《JB1811-92壓縮氣體標(biāo)準(zhǔn)電容器》

《GB1409-2016固體絕緣材料相對(duì)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》

《ASTM D150固體電絕緣材料的交流損耗特性及介電常數(shù)的試驗(yàn)方法》

《IEC 60250測(cè)定電氣絕緣材料在工頻、音頻、射頻(包括米波長(zhǎng))下電容率和電介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》

技術(shù)參數(shù)：

環(huán)境要求：

使用環(huán)境條件：溫度：5～40℃；

相對(duì)濕度：20~80

供電電源：220±10％

電源頻率范圍：50/60±5％

供電電源諧波失真：5%

主要技術(shù)參數(shù)：

電容量測(cè)量范圍：0~0.1uF

介損測(cè)量范圍：-1.111~1.111

電容量測(cè)試精度：小于0.0001

介損測(cè)試精度：0.2%rdg±1×10-5

電橋分辨率：0.000001，連接電腦可顯示1×10-7

標(biāo)準(zhǔn)電容介損精度：小于1×10-5

標(biāo)準(zhǔn)電容測(cè)量誤差：<±0.05%

高壓電源范圍：0~2500V

高壓電源誤差：小于±3%±3個(gè)字

高壓電源輸出波形：50Hz正弦波

采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q 值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q 表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q 值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾持被測(cè)樣品，園筒電容器是一只分辨率高達(dá) 0.0033pF 的線(xiàn)性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q 值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。