泄漏電流和直流耐壓試驗(yàn)

一、泄漏電流

由于絕緣電阻測(cè)量的局限性，所以在絕緣試驗(yàn)中就出現(xiàn)了測(cè)量泄漏電流的項(xiàng)目。

關(guān)于泄漏電流的概念在上節(jié)中已加以說明。

測(cè)量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，

一般用高壓整流設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。

由于試驗(yàn)電壓高，

所以就容易暴露絕緣本身的弱點(diǎn)，

用微安表直測(cè)泄漏

電流，這可以做到隨時(shí)進(jìn)行監(jiān)視，靈敏度高。

并且可以用電壓和電流、

電流和時(shí)間的關(guān)系曲

線來判斷絕緣的缺陷。它屬于非破壞性試驗(yàn)。

由于電壓是分階段地加到絕緣物上，

便可以對(duì)電壓進(jìn)行控制。

當(dāng)電壓增加時(shí)，

薄弱的絕緣將會(huì)出現(xiàn)大的泄漏電流，也就是得到較低的絕緣電阻。

泄漏電流的特點(diǎn)

測(cè)量泄漏電流的原理和測(cè)量絕緣電阻的原理本質(zhì)上是*相同的，

而且能檢出缺陷的性

質(zhì)也大致相同。但由于泄漏電流測(cè)量中所用的電源一般均由高壓整流設(shè)備供給，

并用微安表

直接讀取泄漏電流。因此，它與絕緣電阻測(cè)量相比又有自己的以下特點(diǎn)：

）試驗(yàn)電壓高，并且可隨意調(diào)節(jié)。測(cè)量泄漏電流時(shí)是對(duì)一定電壓等級(jí)的被試設(shè)備施

以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓，這個(gè)試驗(yàn)電壓比兆歐表額定電壓高得多，

所以容易使絕緣本身的弱點(diǎn)暴

露出來。因?yàn)榻^緣中的某些缺陷或弱點(diǎn)，只有在較高的電場(chǎng)強(qiáng)度下才能暴露出來。

泄漏電流可由微安表隨時(shí)監(jiān)視，靈敏度高，測(cè)量重復(fù)性也較好。

根據(jù)泄漏電流測(cè)量值可以換算出絕緣電阻值，而用兆歐表測(cè)出的絕緣電阻值則不

可換算出泄漏電流值。

因?yàn)橐獡Q算首先要知道加到被試設(shè)備上的電壓是多少，

兆歐表雖然在

銘牌上刻有規(guī)定的電壓值，但加到被試設(shè)備上的實(shí)際電壓并非一定是此值，

而與被試設(shè)備絕緣電阻的大小有關(guān)。

當(dāng)被試設(shè)備的絕緣電阻很低時(shí)，

作用到被試設(shè)備上的電壓也非常低，

只有當(dāng)絕緣電阻趨于無窮大時(shí)，

作用到被試設(shè)備上的電壓才接近于銘牌值。

這是因?yàn)楸辉囋O(shè)備

絕緣電阻過低時(shí)，兆歐表內(nèi)阻壓降使

“線路”端子上的電壓顯著下降。

并測(cè)量吸收比來判斷絕緣缺陷。

泄漏電流與

加壓時(shí)間的關(guān)系曲線如圖

所示。在直流電壓作用下，當(dāng)絕緣受潮或有缺陷時(shí)，電流隨加

壓時(shí)間下降得比較慢，zui終達(dá)到的穩(wěn)態(tài)值也較大，即絕緣電阻較小。

泄漏電流與加壓時(shí)間的關(guān)系曲線