高低溫低氣壓試驗(yàn)箱的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

  GB/T5170.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高低溫低氣壓試驗(yàn)箱（含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓）的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
    高低溫低氣壓試驗(yàn)箱GB/T5170.10標(biāo)準(zhǔn)適用于GB/T2423.21《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M 低氣壓》、GB/T2423.25《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z／AM 低溫／低氣壓綜合試驗(yàn)》和GB/T2423.26《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z／BM 高溫／低氣壓綜合試驗(yàn)》。也適用于類(lèi)似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
    高低溫低氣壓試驗(yàn)箱檢驗(yàn)項(xiàng)目如下：低氣壓偏差、氣壓變化速率、綜合檢驗(yàn)溫度偏差、綜合檢驗(yàn)溫度波動(dòng)度、綜合檢驗(yàn)溫度均勻度、綜合檢驗(yàn)氣壓偏差、綜合檢驗(yàn)每5min溫度平均變化速率、綜合檢驗(yàn)氣壓變化速率、溫度指示誤差、氣壓指示誤差、溫度過(guò)沖量、溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間、噪聲。