冷熱沖擊試驗(yàn)箱的用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱的適用于電子電器零零、組件、自動(dòng)化零部件、通訊零、組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的*的一項(xiàng)測(cè)試箱。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)又分為三箱式和兩箱式。

三箱式和兩箱式不同點(diǎn)是試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為低溫區(qū)、高溫區(qū)、測(cè)試區(qū)，產(chǎn)品是放在測(cè)試區(qū)測(cè)試。兩箱式分為高溫區(qū)和低溫區(qū)，是通過電機(jī)帶動(dòng)提籃運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動(dòng)的。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；

2、GB/T2423.2-2001[1]； 

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N； 

4. 國軍標(biāo)GJB150.3-86； 

5. 國軍標(biāo)GJB150.4-86； 

6. 國軍標(biāo)GJB150.5-86；

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)； 

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式 

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式 

12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化 10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 

13、GB/T 2423.22-2002溫度變化 

14、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則, 

15、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估

熱沖擊試驗(yàn)機(jī)節(jié)能優(yōu)勢(shì)

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用自主研發(fā)的控制系統(tǒng)，精度高，穩(wěn)定操作簡單，控制器拋棄日本韓國等控制器的固定模式，采用的模糊運(yùn)算技術(shù)，自動(dòng)分析負(fù)載能力，合理調(diào)節(jié)冷媒流量，使設(shè)備節(jié)能高達(dá)20%。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)：

采用原裝日制抽電腦大型液晶（320X240dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。

高程式記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存100組程式，zui大循環(huán)設(shè)定9999cycles，每段時(shí)間zui大設(shè)定9999Hrs  59Mins.

具有RS-232C通信界面裝置，可與電腦聯(lián)線操控/編輯/記錄及十組動(dòng)態(tài)連接（TIMER SINGAL RELAY），使用此鍵。執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2Zone或3Zone之功能。

具備全自動(dòng)，高精度系統(tǒng)，任一機(jī)件動(dòng)作，*由P.L.C鎖定處理。