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平面度誤差的測量
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/span>
1. 了解平面度誤差的測量原理及千分表的使用方法。
2. 掌握平面度誤差的評(píng)定方法及數(shù)據(jù)處理。
二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
用千分表測量平面度誤差。
三、測量原理
平面度公差用以限制平面的形狀誤差。其公差帶是距離為公差值的兩平行平面之間的區(qū)域。并規(guī)定,理想形狀的位置應(yīng)符合zui小條件,常見的平面度測量方法有用指示表測量、用光學(xué)平晶測量平面度、用水平儀測量平面度及用自準(zhǔn)儀和反射鏡測量平面度誤差,
用各種不同的方法測得的平面度測值,應(yīng)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,然后按一定的評(píng)定準(zhǔn)則處理結(jié)果。平面度誤差的評(píng)定方法有;
1. zui小包容區(qū)域法,由兩平行平面包容實(shí)際被測要素時(shí),實(shí)現(xiàn)至少四點(diǎn)或三點(diǎn)接觸。且具有下列形式之一者,即為zui小包容區(qū)域,其平面度誤差值z(mì)ui小。zui小包容區(qū)域的判別方法有下列三種形式。
(1)兩平行平面包容被測表面時(shí),被測表面上有3個(gè)zui低點(diǎn)(或3個(gè)zui高點(diǎn))及1個(gè)zui高點(diǎn)(或1個(gè)zui低點(diǎn))分別與兩包容平面接觸,并且zui高點(diǎn)(或zui低點(diǎn))能投影到3個(gè)zui低點(diǎn)(或3個(gè)zui高點(diǎn))之間,則這兩個(gè)平行平面符合zui小包容區(qū)原則。見圖1(a)所示。
(2)被測表面上有2個(gè)zui高點(diǎn)和2個(gè)zui低點(diǎn)分別與兩個(gè)平行的包容面相接觸,并且2個(gè)zui高點(diǎn)投影于2個(gè)低點(diǎn)連線之兩側(cè)。則兩個(gè)平行平面符合于平面度zui小包容區(qū)原則。見圖1(b)所示。
(3)被測表面的同一截面內(nèi)有2個(gè)zui高點(diǎn)及1個(gè)低點(diǎn)(或相反)分別和兩個(gè)平行的包容面相接觸。則該兩平行平面符合于平面度zui小包容區(qū)原則,如圖1(c)所示。
圖1 平面度誤差的zui小區(qū)域判別法
三角形法是以通過被測表面上相距zui遠(yuǎn)且不在一條直線上的3個(gè)點(diǎn)建立一個(gè)基準(zhǔn)平面,
各測點(diǎn)對(duì)此平面的偏差中zui大值與zui小值的值之和為平面度誤差。實(shí)測時(shí),可以在被測表面上找到3個(gè)等高點(diǎn),并且調(diào)到零。在被測表面上按布點(diǎn)測量,與三角形基準(zhǔn)平面相距zui遠(yuǎn)的zui高和zui低點(diǎn)間的距離為平面度誤差值。
2. 對(duì)角線法是通過被測表面的一條對(duì)角線作另一條對(duì)角線的平行平面,該平面即為基準(zhǔn)平面。偏離此平面的zui大值和zui小值的值之和為平面度誤差。
四、實(shí)驗(yàn)步驟
檢測:工具:平板、帶千分表的測量架等。
檢測時(shí),將被測零件放在平板上,帶千分表的測量架放在平板上,并使千分表測量頭垂直地指向被測零件表面,壓表并調(diào)整表盤,使指針指在零位。然后,按(圖2)所示,將被測平板沿縱橫方向均布畫好網(wǎng)格,四周離邊緣10mm,其畫線的交點(diǎn)為測量的9個(gè)點(diǎn)。同時(shí)記錄各點(diǎn)的讀數(shù)值。全部被測點(diǎn)的測量值取得后,按對(duì)角線法求出平面度誤差值。
圖 2
五、數(shù)據(jù)處理
1. 數(shù)據(jù)處理 數(shù)據(jù)處理的方法有多種,有計(jì)算法、作圖法等。下面介紹用對(duì)角線法求取平面度誤差值的方法。
圖3
(1)令 圖3中的
圖4
(2)令圖4中的
圖5
(3)按對(duì)角線上兩個(gè)值相等列出下列方程,求旋轉(zhuǎn)量P和Q
把求出的
2. 例題
用千分表按圖2所示的布線方式測得9點(diǎn),其讀數(shù)如圖6(a)所示。用對(duì)角線法確定平面度誤差。
0 -6 -16 0 -5.5 -15
-7 +3 -7 - 9.5 +1 - 8.5
-10 +12 +4 - 15 +7.5 0
圖 6( a ) 圖 6(b)
0=4+2P+2Q
-16+2P=-10+2Q
解得:P=0.5
Q=-2.5
將各點(diǎn)的旋轉(zhuǎn)量與圖6(a)中的對(duì)應(yīng)點(diǎn)的值想加,即得經(jīng)坐標(biāo)變換后的各點(diǎn)坐標(biāo)值。如圖6(b)所示,由圖6(b)可見
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