光纖熔接損耗的因素大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩類。

1．影響光纖接續(xù)損耗的非本征因素即接續(xù)技術(shù)。

（1）軸心錯位：單模光纖纖芯很細(xì)，兩根對接光纖軸心錯位會影響接續(xù)損耗。當(dāng)錯位1.2μm時，接續(xù)損耗達(dá)0.5dB。

（2）軸心傾斜：當(dāng)光纖斷面傾斜1°時，約產(chǎn)生0.6dB的接續(xù)損耗，如果要求接續(xù)損耗≤0.1dB，則單模光纖的傾角應(yīng)為≤0.3°。

（3）端面分離：活動連接器的連接不好，很容易產(chǎn)生端面分離，造成連接損耗較大。當(dāng)熔接機放電電壓較低時，也容易產(chǎn)生端面分離，此情況一般在有拉力測試功能的熔接機中可以發(fā)現(xiàn)。

（4）端面質(zhì)量：光纖端面的平整度差時也會產(chǎn)生損耗，甚至氣泡。

（5）接續(xù)點附近光纖物理變形：光纜在架設(shè)過程中的拉伸變形，接續(xù)盒中夾固光纜壓力太大等，都會對接續(xù)損耗有影響，甚至熔接幾次都不能改善。

2．光纖本征因素是指光纖自身因素，主要有四點。
（1）光纖模場直徑不一致；
（2）兩根光纖芯徑失配；
（3）纖芯截面不圓；
（4）纖芯與包層同心度不佳。

其中光纖模場直徑不一致影響zui大，按CCITT（電報咨詢委員會）建議，單模光纖的容限標(biāo)準(zhǔn)如下：
模場直徑：（9~10μm）±10％，即容限約±1μm；
包層直徑：125±3μm；
模場同心度誤差≤6％，包層不圓度≤2％。