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      深圳市瑞盛科技有限公司

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      JSM-6610 掃描電鏡JSM-6610 掃描電鏡
      參考價(jià): 面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • JSM-6610 掃描電鏡 產(chǎn)品型號(hào)
      • 品牌
      • 其他 廠商性質(zhì)
      • 深圳市 所在地

      訪問(wèn)次數(shù):384更新時(shí)間:2022-01-29 08:02:23

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      黃小姐

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      產(chǎn)品簡(jiǎn)介
      掃描電鏡Z基本的功能是對(duì)各種固體樣品表面進(jìn)行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色,應(yīng)用于生物學(xué)、植物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域。觀察可以是一個(gè)樣品的表面,也可以是一個(gè)切開的面,或是一個(gè)斷面。冶金學(xué)家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面??梢院芊奖愕匮芯垦趸锉砻?,晶體的生長(zhǎng)或腐蝕的缺陷。它一方面可更直接地檢查紙,紡織品,自然的或制備過(guò)的木頭的細(xì)微結(jié)構(gòu),生物學(xué)家可用它研究小的易碎樣品的結(jié)構(gòu)。
      產(chǎn)品介紹

      掃描電鏡zui基本的功能是對(duì)各種固體樣品表面進(jìn)行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色,應(yīng)用于生物學(xué)、植物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域。觀察可以是一個(gè)樣品的表面,也可以是一個(gè)切開的面,或是一個(gè)斷面。冶金學(xué)家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面??梢院芊奖愕匮芯垦趸锉砻妫w的生長(zhǎng)或腐蝕的缺陷。它一方面可更直接地檢查紙,紡織品,自然的或制備過(guò)的木頭的細(xì)微結(jié)構(gòu),生物學(xué)家可用它研究小的易碎樣品的結(jié)構(gòu)。例如:花粉顆粒,硅藻和昆蟲。另一方面,它可以拍出與樣品表面相應(yīng)的立體感強(qiáng)的照片。

      在掃描電鏡應(yīng)用中,很多集中在器件和方面,它可以很詳細(xì)地檢查器件工作時(shí)局部表面電壓變化的實(shí)際情況,這是因?yàn)檫@種變化會(huì)帶來(lái)象的反差的變化。焊接開裂和腐蝕表面的細(xì)節(jié)或相互關(guān)系可以很容易地觀察到。利用束感生電流,可以觀測(cè)半導(dǎo)體P—N結(jié)內(nèi)部缺陷。

      電子束與樣品作用區(qū)內(nèi),還發(fā)射與樣品物質(zhì)其他性質(zhì)有關(guān)信號(hào)。例如:與樣品化學(xué)成分分布相關(guān)的,背散射電子,特征X射線,俄歇電子,陰極熒光,樣品吸收電流等;與樣品晶體結(jié)構(gòu)相關(guān)的,背散射電子衍射現(xiàn)象的探測(cè);與半導(dǎo)體材料電學(xué)性能相關(guān)的,二次電子信號(hào)、電子束感生電流信號(hào);在觀察薄樣品時(shí)產(chǎn)生的透射電子信號(hào)等。目前分別有商品化的探測(cè)器和裝置可安裝在掃描電鏡樣品分析室,用于探測(cè)和定性定量分析樣品物質(zhì)的相關(guān)信息。

      掃描電鏡對(duì)于固體材料的研究應(yīng)用非常廣泛,沒(méi)有任何一種儀器能夠和其相提并論。對(duì)于固體材料全面特征的描述,掃描電鏡是至關(guān)重要的。

       

      保證分辨率

      3.0nm(30kV)
      8.0nm(3kV)
      15nm(1kV)

      放大倍數(shù)

      5至300,000x

      加速電壓

      0.3kV至30kV

      電子槍

      工廠預(yù)對(duì)中燈絲

      聚光鏡

      變焦聚光鏡

      物鏡

      錐形物鏡

      樣品臺(tái)

      全對(duì)中樣品臺(tái)

      X-Y

      125mm-100mm

      Z

      5mm至80mm

      旋轉(zhuǎn)

      360°

      傾斜

      -10°至+90°

      排氣系統(tǒng)
      (高真空模式)

      DPx1,RPx1

      排氣系統(tǒng)
      (低真空模式)

      DPx1,RPx2

       

      JSM-6610A/JSM-6610LA分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析儀(EDS)組合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制,操作員只用一只鼠標(biāo),就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過(guò)程。

      大樣品室和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)

      樣品室對(duì)應(yīng)樣品的直徑可達(dá)到200mm,5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)確保了高效率的樣品移動(dòng)和觀察。

      操作窗口

      直觀的操作界面的設(shè)計(jì),簡(jiǎn)明易懂便于迅速掌握操作。

      支持多用戶

      單個(gè)用戶可以根據(jù)常用功能設(shè)置相應(yīng)的圖標(biāo),營(yíng)造高效率的操作環(huán)境。用戶登錄時(shí),即可加載已注冊(cè)過(guò)的設(shè)定。


      同時(shí)顯示兩幅圖像

      畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實(shí)時(shí)圖像??赏瑫r(shí)觀察樣品的形貌和組成分布。

      微細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量

      適合于多種測(cè)量功能。可在觀察圖像上直接進(jìn)行測(cè)量。也可將測(cè)量結(jié)果貼至SEM圖像,保存在文件中。


      標(biāo)準(zhǔn)的全對(duì)中樣品臺(tái),能收錄三維照片

      3D Sight(選配件),能夠進(jìn)行平面測(cè)量和高度測(cè)量,實(shí)現(xiàn)立體俯視圖。

      從圖像觀察到元素分析,配合連貫一條龍

      分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺(tái)監(jiān)視器,一臺(tái)用于SEM圖像觀察和另一臺(tái)用于元素分析(EDS)。一只通用鼠標(biāo)即可同時(shí)控制兩臺(tái)監(jiān)視器。大尺寸畫面使操作更加簡(jiǎn)便與舒適。

       

      維護(hù)簡(jiǎn)便

      工廠預(yù)置中心燈絲,十分便于更換。因此,可*保持穩(wěn)定的高性能。此外,操作界面還能以映像形式顯示燈絲維護(hù)的步驟說(shuō)明。

      可信賴的真空系統(tǒng)

      真空系統(tǒng)使用高性能的擴(kuò)散泵保證了潔凈的高真空狀態(tài)。擴(kuò)散泵內(nèi)部無(wú)活動(dòng)部件,體現(xiàn)了操作穩(wěn)定,維護(hù)簡(jiǎn)便的特色。

      后續(xù)更新中.........

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      黃   :



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