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      目錄:北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司>>體積表面電阻率測試儀>>片材四探針電阻測試儀>> BEST-300C四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀

      四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀
      • 四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀
      • 四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀
      • 四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀
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      參考價 20000
      訂貨量 ≥1
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      20000
      ≥1
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 品牌
      • 型號 BEST-300C
      • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
      • 所在地 北京市
      屬性

      >

      更新時間:2024-11-25 13:24:07瀏覽次數(shù):1653評價

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      四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀常規(guī)四探針測量方法解決不了,幾何邊界條件和探針間距的自動修正.應(yīng)用于各類形狀的簿膜及片狀半導(dǎo)體材料。

      四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀在測試過程中,在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。四探針導(dǎo)電材料電阻率測試儀自動修正,降低了其對測試結(jié)果的影響,從而提高了測量結(jié)果的準確度。通過采用四探針雙位組合測量技術(shù),將范德堡測量方法應(yīng)用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換,進行兩次電測量,其最后計算結(jié)果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素所引起的,對測量結(jié)果的不利影響。適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動測量和系數(shù)補償,并帶有溫度補償功能,自動轉(zhuǎn)換量程;采用AD芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數(shù)據(jù),生成報表

      用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品

      電阻測量范圍: 
      1、電阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

      電   阻:1×10-5~2×105Ω

      電導(dǎo)率:5×10-6~1×108ms/cm

      分辨率:  最小1μΩ
      測量誤差±5%
      2、測量電壓量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
         測量精度±(0.1%讀數(shù))

      分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
      3、⑴電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續(xù)可調(diào),由交流電源供電。
         ⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 
         ⑶誤差:±0.2%讀數(shù)±2字

      4. 主機外形尺寸:330mm*350mm*110mm

      5、顯示方式:液晶顯示6、電源:220±10% 50HZ/60HZ

      7、標配:測試平臺一套、主機一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

      四端測試法是目前較先進之測試方法,主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

      本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電導(dǎo)率單位自動選擇,BEST-300C 材料電導(dǎo)率測試儀自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成圖表和報表。

      本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

      提供中文或英文兩種語言操作界面選擇,滿足國內(nèi)及國外客戶需求硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國家標準設(shè)計制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

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