無(wú)損密封試驗(yàn)儀*供應(yīng)商美國(guó)PTI密封試驗(yàn)儀今日起正式入駐上海眾林。美國(guó)PTI是制藥行業(yè)、醫(yī)療設(shè)備、食品以及容器領(lǐng)域無(wú)損包裝檢測(cè)技術(shù)的,其產(chǎn)品采用的是目前的檢測(cè)技術(shù):真空衰減法。真空衰減技術(shù)不僅檢測(cè)精度高,而且不會(huì)損壞產(chǎn)品包裝。美國(guó)PTI為消費(fèi)者提供包裝完整性測(cè)試、密封完整性檢測(cè)、泄漏檢測(cè)以及容器密封性測(cè)試的檢測(cè)系統(tǒng),是眾多制藥行業(yè)、醫(yī)療設(shè)備、食品以及容器企業(yè)的供應(yīng)商。
系列 | 技術(shù) | 應(yīng)用 |
VeriPac-Series(225/325&415/425) | 真空衰減泄漏測(cè)試技術(shù) | 瓶、杯和盤子的包裝完整性測(cè)試 |
Seal-Senor | 超聲波技術(shù) | 軟包裝密封性在線和離線檢測(cè) |
Veri Pac 455 | 真空衰減泄漏測(cè)試技術(shù) | 微漏測(cè)試和容器完整性測(cè)試 |
Veri Pac D-Series | 真空衰減泄漏測(cè)試技術(shù) | 軟包、條包和小袋包裝完整性測(cè)試 |
Veri Pac 410 | 真空衰減泄漏測(cè)試技術(shù) | 泡罩包裝檢漏 |
Veri Pac 225/BLV | 真空衰減泄漏測(cè)試和圖像技術(shù) | 泡罩包裝檢漏和完整性測(cè)試 |
E-Scan-Series | HVLD高電壓泄漏檢測(cè)系統(tǒng) | 用于裝填液體的包裝和容器的在線(液體、粉狀物包裝)和離線(制藥行業(yè))泄漏檢測(cè) |
Micro Current HVLD | HVLD高電壓泄漏檢測(cè)系統(tǒng) | —— |