電路板故障檢測(cè)儀ABI-8200包含2個(gè)重要測(cè)試模塊：ABI-6400+ABI-2400

模塊一：ABI-6400的技術(shù)參數(shù)

6400單獨(dú)成為測(cè)量設(shè)備的外形

離線測(cè)試盒

主要測(cè)試功能：

1）64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試
2）64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試（可測(cè)模擬器件）
3）強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
4）閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試
5）短路追蹤測(cè)試（低電阻測(cè)試）
6）實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
7）存儲(chǔ)器功能測(cè)試
8）數(shù)字時(shí)序編輯功能
9）未知器件型號(hào)查詢
10）程控電源供電,可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間

電路板故障檢測(cè)儀 產(chǎn)品特征描述

1）中英文測(cè)試軟件，產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2）數(shù)字測(cè)試通道:64路（可擴(kuò)充到256通道）.
3）模擬測(cè)試通道64路，即64路V-I曲線測(cè)試（可擴(kuò)充到256通道）. 1路v-i探棒測(cè)試
4）隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等），可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。
5）能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試；可以通過圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫，可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫
6）配有離線測(cè)試盒，快速測(cè)試批量元器件。離線測(cè)試和在線測(cè)試功能*一至。
7）IC型號(hào)識(shí)別：標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。
8）讀寫存儲(chǔ)器功能測(cè)試:可針對(duì)記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進(jìn)行讀取,對(duì)比及將資料存入電腦中,可進(jìn)行在線或離線測(cè)試.可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼
9）5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過電壓及過電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。
10）數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開路，自動(dòng)上加上拉電阻。
11）V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試
12）LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。

測(cè)試準(zhǔn)確-源自*的測(cè)試技術(shù)

1.同一器件同一時(shí)間完成多種測(cè)試：功能測(cè)試，V-I曲線測(cè)試，曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)，各個(gè)管腳電壓值測(cè)量,管腳連接狀態(tài)測(cè)量顯示,
2.圖形化元件測(cè)試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯測(cè)試完成，方便快捷的建立起測(cè)試庫中沒有的元件庫
3.整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單，通過圖形化的測(cè)試庫編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立板測(cè)試庫，快速批量檢測(cè)電路板的功能。
4.邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.
5.邏輯電平閾值自定義?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件。
6.短路電阻測(cè)量功能：三段低電阻測(cè)量范圍，可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小，并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點(diǎn)。
7.輸出邏輯時(shí)序圖形顯示、具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體有用測(cè)試信息。
8.V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)元件直接進(jìn)行測(cè)試，曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v；測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整, 可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào)，正負(fù)電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v zui大限度地保證測(cè)試的安全性。其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種。
9.V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)定，可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障。方便找出不穩(wěn)定器件.
10.系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充，直至256通道

英國ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀 技術(shù)參數(shù)：

模塊二：ABI-2400的技術(shù)參數(shù)

2400單獨(dú)成為測(cè)量設(shè)備的外形

ABI2400電路板故障檢測(cè)儀特點(diǎn)：

1）適合數(shù)字及模擬集成電路的測(cè)試
2）可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析
3）具有24路測(cè)試通道+2路探棒測(cè)試
4）安全性高的無電源測(cè)量方式
5）矩陣式V-I曲線測(cè)試模式, 可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試
6）在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí), 可針對(duì)芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析
7）自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存曲線, 
8）可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件測(cè)試
9）可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度, 進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試
10）可進(jìn)行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試
11）具有二組信號(hào)源, 可輸出直流信號(hào), 針對(duì)光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
12）曲線相似度百分比顯示，具有業(yè)界中zui多的測(cè)試條件設(shè)計(jì), 大大提高了故障診斷能力.
13）測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件
14）本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能, 可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試, 以防止測(cè)量信號(hào)失真.
15）可由軟件來進(jìn)行維修日志的編寫
16）可由軟件加入圖片, 用來清楚的表示量測(cè)位置及電路板圖像.
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ABI2400測(cè)試技術(shù)參數(shù)

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