產(chǎn)品型號: | XRF-2000 | |
產(chǎn)品簡介: | ||
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主要技術(shù)參數(shù): | ||
可測元素范圍: | ||
鈦(Ti) – 鈾(U) | ||
可測量厚度范圍: | ||
原子序 22-25,0.1-0.8μm | ||
26-40,0.05-35μm | ||
43-52,0.1-100μm | ||
72-82,0.05-5μm | ||
X-射線管:油冷,超微細對焦 | ||
高壓:0-50KV(程控) | ||
準(zhǔn)直器: | ||
固定種類大?。嚎蛇x0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm | ||
自動種類大?。嚎蛇x0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm | ||
電腦系統(tǒng):IBM相容,17”顯示器 | ||
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 | ||
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. | ||
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液. | ||
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. | ||
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度. | ||
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì). |
暫無信息 |