ST5000E測試系統(tǒng)是一項高速多用途半導(dǎo)體分立器件智能測試系統(tǒng)。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力?？烧鎸崪?zhǔn)確測試達十九大類二十七分類大、中、小功率的半導(dǎo)體分立器件。STI產(chǎn)品使用比較方便，只需要通過USB或者232與電腦連接，通過電腦中友好的人機界面操作，即可完成測試。并可以實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)以EXCEL的格式保存，特性曲線保存相當(dāng)方便。如圖所示，

測試范圍：

技術(shù)參數(shù)及可實現(xiàn)目標(biāo)

 套件：
      測試陣列器件，Multiple及達林頓陣列的掃描器(1200V,30A)，遙控器,光電器件適配器,繼電器適配器,
      各種測試夾具: TO-220/218,TO-3/66,TO-5/18/72/92,TO-247, SOT-23/25/26/223, D-PAK,SMA/B/C,,空白插座等等

1.MOSFET測試項目:IDSS/V,IFSSF,IGSSR,BVDSS,VGSTH,
  GFS,VDSON,VSD,RDSON,IDON,VGSON

2.IGBT 測試項目:ICES,IGESF,IGESR,BVCES,VGETH,GFE
  VCESAT,ICON,RDSON,VGEON,VF
 

3.普通晶體管測試項目: IEBO,ICBO,ICEO/R/S/V,BVCBO,
  BVEBO,BVCEO,VCESUS,hFE,VCESAT,VBESAT,VBEON
 

4.可控硅SCR測試項目:IDRM, IRRM, IGKO,VDRM, VRRM,
    BVGKO, VTM, IGT, VGT, IL, IH

CURVE TRACER:

           主要型號：

ST1005E         1000V 50A;

ST2005E         2000V 50A;

ST2010E        2000V 100A;