STI-CURVE TRACE軟件配合ST5000測試主機(jī)使用，可自動生成功率器件的I-V曲線(標(biāo)準(zhǔn)特性曲線)。在失效分析中有廣泛的應(yīng)用。新稱呼為 STI5000C曲線追蹤儀。該產(chǎn)品性曲線目前已經(jīng)在眾多五的研發(fā)實驗室，來料檢驗中心，以及各大科研機(jī)構(gòu)，大學(xué)的實驗室投入使用，以其的準(zhǔn)確迅速的反應(yīng)力而聞名。目前使用的16bit的數(shù)模轉(zhuǎn)換，分辨率更加的提升，RDSON的分辨率為微歐級。

標(biāo)準(zhǔn)特性曲線:
Mosfet (N-Channel & P-Channel)
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS
Transistor (NPN & PNP)
HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)
VCE(SAT) vs. IB at a range of IC
VF vs. IF