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⑴IGBT 由于集電極-柵極的寄生電容的密勒效應(yīng)的影響,能引起意外的電壓尖峰
損害,所以設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)讓柵極的阻抗足夠低,以盡量消除其負(fù)面影響;
⑵柵極串聯(lián)電阻和驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)阻抗對IGBT的開通過程及驅(qū)動(dòng)脈沖的波形都有很
大的影響,所以設(shè)計(jì)時(shí)要綜合考慮;
⑶應(yīng)采用慢降柵壓技術(shù)來控制故障電流的下降速率,從而抑制器件的du/dt 和Uge
的峰值,達(dá)到短路保護(hù)的目的;
⑷在工作電流較大的情況下,為了減小關(guān)斷過電壓,應(yīng)盡量減小主電路的布線電
感,吸收電容應(yīng)采用低感或無感型;
⑸IGBT 與MOSFET 都是電壓驅(qū)動(dòng),都具有一個(gè)2.5~5V 的閾值電壓,有一個(gè)
容性輸入阻抗,因此IGBT 對柵極電荷非常敏感故驅(qū)動(dòng)電路必須很可靠,要保
證有一條低阻抗值的放電回路,即驅(qū)動(dòng)電路與IGBT 的連線要盡量短;
⑹用內(nèi)阻小的驅(qū)動(dòng)源對柵極電容充放電,以保證柵極控制電壓 Uge, 有足夠陡的
前后沿,使IGBT 的開關(guān)損耗盡量小。另外,IGBT 開通后,柵極驅(qū)動(dòng)源應(yīng)能
提供足夠的功率,使IGBT 不退出飽和而損壞;
⑺驅(qū)動(dòng)電平Uge 也必須綜合考慮。Uge 增大時(shí), IGBT 通態(tài)壓降和開通損耗均
下降,但負(fù)載短路時(shí)的Ic 增大, IGBT 能承受短路電流的時(shí)間減小,對其安全
不利,因此在有短路過程的設(shè)備中Uge 應(yīng)選得小些,一般選12~15V;
在關(guān)斷過程中,為盡快抽取PNP 管的存儲(chǔ)電荷,須施加一負(fù)偏壓 Uge, 但它
受IGBT 的G 、E 間zui大反向耐壓限制,一般取 1~10V;
⑻在大電感負(fù)載下, IGBT 的開關(guān)時(shí)間不能太短,以限制出di/dt 形成的尖峰
電壓,確保IGBT 的安全;
⑼由于IGBT 在電力電子設(shè)備中多用于高壓場合,故驅(qū)動(dòng)電路與控制電路在電
位上應(yīng)嚴(yán)格隔離;
⑽IGBT 的柵極驅(qū)動(dòng)電路應(yīng)盡可能簡單實(shí)用,自身帶有對IGBT 的保護(hù)功
能,有較強(qiáng)的抗*力。
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