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思耐達(dá)精密儀器（上海）有限公司
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思耐達(dá)精密儀器（上海）有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
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更新時(shí)間：2024-03-23 20:20:09瀏覽次數(shù)：174次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 智能制造網(wǎng)產(chǎn)品介紹 通過(guò)自動(dòng)重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。 采用的鏡筒布局，從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)機(jī)型難以企及的高精度三維結(jié)構(gòu)分析。
產(chǎn)品介紹：
追求理想的三維結(jié)構(gòu)分析
通過(guò)自動(dòng)重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。
采用的鏡筒布局，從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)機(jī)型難以企及的高精度三維結(jié)構(gòu)分析。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
·SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角，形成三維結(jié)構(gòu)分析的鏡筒布局
·融合高亮度冷場(chǎng)發(fā)射電子槍與高靈敏度檢測(cè)系統(tǒng)，從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品
·通過(guò)選配口碑良好的Micro-sampling?系統(tǒng)*和Triple Beam?系統(tǒng)*，可支持制作高品質(zhì)TEM及原子探針樣品
垂直入射截面SEM觀察可忠實(shí)反映原始樣品結(jié)構(gòu)
SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角，實(shí)現(xiàn)FIB加工截面的垂直入射SEM觀察。
舊型FIB-SEM采用傾斜截面觀察方式，必定導(dǎo)致截面SEM圖像變形及采集連續(xù)圖像時(shí)偏離視野，直角型結(jié)構(gòu)可避免出現(xiàn)此類問(wèn)題。
通過(guò)穩(wěn)定獲得忠實(shí)反映原始結(jié)構(gòu)的圖像，實(shí)現(xiàn)高精度三維結(jié)構(gòu)分析。
同時(shí)，F(xiàn)IB加工截面（SEM觀察截面）與樣品表面平行，有利于與光學(xué)顯微鏡圖像等數(shù)據(jù)建立鏈接。
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