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思耐達(dá)精密儀器（上海）有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
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更新時間：2024-03-23 20:18:53瀏覽次數(shù)：194次
聯(lián)系我時，請告知來自 智能制造網(wǎng)產(chǎn)品介紹 在設(shè)備及高性能納米材料的評價和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。 近來，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。 日立高新公司，整合了高性能FIB技術(shù)和高分辨SEM技術(shù)，再加上加工方向控制技術(shù)以及Triple Beam®＊1（選配）技術(shù)，推出了新一代產(chǎn)品NX2000
產(chǎn)品介紹：
追求的TEM樣品制備工具
在設(shè)備及高性能納米材料的評價和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。
近來，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。
日立高新公司，整合了高性能FIB技術(shù)和高分辨SEM技術(shù)，再加上加工方向控制技術(shù)以及Triple Beam?＊1（選配）技術(shù)，推出了新一代產(chǎn)品NX2000
產(chǎn)品特點：
運用高對比度，實時SEM觀察和加工終點檢測功能，可制備厚度小于20 nm的超薄樣品
FIB加工時的實時SEM觀察＊2例
樣品：NAND閃存
加速電壓：1 kV
FOV：0.6 μm
加工方向控制技術(shù)（Micro-sampling?＊3系統(tǒng)（選配）+高精度/高速樣品臺＊）對于抑制窗簾效應(yīng)的產(chǎn)生，以及制作厚度均一的薄膜類樣品給予厚望。
Triple Beam?＊1（選配）可提高加工效率，并能使消除FIB損傷自動化
EB：Electron Beam（電子束）
FIB：Focused Ion Beam（聚焦離子束）
Ar：Ar ion beam（Ar離子束）
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