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思耐達精密儀器（上海）有限公司
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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質其他
所 在 地上海市
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更新時間：2024-03-23 20:16:06瀏覽次數(shù)：70次
聯(lián)系我時，請告知來自 智能制造網(wǎng)產(chǎn)品介紹 微型采樣方法(已在日本和美國取得)已在半導體器件分析領域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品，以便于STEM分析，其定位精度可達到0.1 µm以下。
產(chǎn)品介紹：
優(yōu)異的高效分析性能
微型采樣方法(已在日本和美國取得)已在半導體器件分析領域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品，以便于STEM分析，其定位精度可達到0.1 μm以下。
產(chǎn)品特點：
聚焦離子束(FIB)微采樣裝置和聚焦離子束(FIB)微采樣方法
聚焦離子束(FIB)微柱狀制樣實例
一個微柱狀樣品，包含一個直接從半導體器件上準確地切割下來的分析點。改變?nèi)肷渚劢闺x子束(FIB)的方向，把微樣品切割或加工成任意形狀。
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