二維材料電性能分析數(shù)字源表

源于超薄的厚度引起的量子限域效應(yīng)，使得二維材料在透明電極、光電探測(cè)器、氣敏電阻、太陽(yáng)能電池等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用?；魻栃?yīng)及電阻率是表征納米材料電性能的重要手段之一。

測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)

電阻率及霍爾效應(yīng)測(cè)試均是加流測(cè)壓的過程，需要設(shè)備具備電流源以及電壓表的功能。

不同種類的材料，電阻范圍超寬，從mQ~GQ;

材料的電阻率及電子遷移率通常范圍較大，需要設(shè)備具備的電流范圍大。

二維材料電性能分析數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向，深耕半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，在I-V測(cè)試上積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)、大功率激光器老化測(cè)試系統(tǒng)等測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于高校研究所、實(shí)驗(yàn)室，新能源，光伏，風(fēng)電，軌交，變頻器等場(chǎng)景。普賽斯全新升級(jí)S系列數(shù)字源表更大直流,更高精度,科研實(shí)驗(yàn)B備源表,標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集,上位機(jī)軟件功能豐富,半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的經(jīng)典產(chǎn)品!