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聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 智能制造網(wǎng)下載地址2:使用微型ATRFTIR成像系統(tǒng)在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中進(jìn)行無(wú)損故障/缺陷分析電子和半導(dǎo)體行業(yè)高度依賴于故障和缺陷分析,以提高工作效率并縮短昂貴的停機(jī)時(shí)間
下載地址2:使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中進(jìn)行無(wú)損故障/缺陷分析
電子和半導(dǎo)體行業(yè)高度依賴于故障和缺陷分析,以提高工作效率并縮短昂貴的停機(jī)時(shí)間。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展,生產(chǎn)出的設(shè)備越來(lái)越小巧,而其生產(chǎn)工藝也越來(lái)越復(fù)雜精細(xì)。因存在顆粒物和化學(xué)污染物引起的高成本停機(jī)對(duì)正常生產(chǎn)操作的影響越來(lái)越大。任何污染物的出現(xiàn)都需要停止生產(chǎn)過(guò)程,同時(shí)準(zhǔn)確并可靠地表征缺陷、確定污染源并設(shè)法補(bǔ)救。限度縮短完成這一過(guò)程所需的時(shí)間,
實(shí)際上能夠節(jié)省數(shù)百萬(wàn)美元之多。
安捷倫 Cary 620 化學(xué)成像系統(tǒng)利用 FPA(二維矩陣檢測(cè)器元件,可產(chǎn)生行和列像素)來(lái)采集精密組件表面的真實(shí)組成圖像。
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