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      JEM-3100F 透射電子顯微鏡
      
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								更新時間：2022-11-07 10:38:22瀏覽次數：232次
							
      
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                    產品簡介
                
      
				
      
                      
      
                                                                      
      
					
      JEM-3100F 透射電子顯微鏡
      
				
      
				
      
                    詳細介紹
                
      
			    
      
			        
      
			             
       
       產品概述：
       
        
         
              
       
       
       操作簡易，功能強大
       
       JEM-3100F 場發(fā)射透射電子顯微鏡是這一級別電鏡中一款,分辨率可達0.17nm.如此高的分辨率在納米材料研究領域效果突出.控制系統(tǒng)使用藝術級的數字技術, 充分強化了操作的簡易性。
       
        
       
       擁有300KV加速電壓,JEM-3100F不僅很適合過程測試,還具有高速檢查經聚焦離子束處理過的比較厚的半導體器件截面的能力。
       
        
       
       JEM-3100F是可廣泛用于從研究開發(fā)到制造的的工具;包括生物,基本材料研究和開發(fā), 實效分析和質量控制等。
       
       
       產品特點：
       
         
      •  分辨率達到0.17nm,是這一級別電鏡中。
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      •  理想的分析用高亮度,高穩(wěn)定性的肖特基電子槍。
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      •  的5軸馬達驅動測角器加強樣品臺精確度。
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      •  操作簡易的全數字化控制。
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      •  加載JEOL生產的掃描透射(STEM)系統(tǒng)和能譜儀(EDS)可升級為支持微區(qū)元素分析。
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