SuperViewW1表面輪廓光學(xué)測(cè)量?jī)x微納米級(jí)微觀形貌測(cè)量中圖儀器
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產(chǎn)品型號(hào)SuperViewW1
品 牌
廠商性質(zhì)其他
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更新時(shí)間:2023-01-04 11:27:03瀏覽次數(shù):362次
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SuperViewW1表面輪廓光學(xué)測(cè)量?jī)x微納米級(jí)微觀形貌測(cè)量,它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量
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