ZKY真空度測(cè)試儀
故障點(diǎn)發(fā)生在電纜本體時(shí),一般來(lái)說(shuō)是容易判斷的,只要用閃絡(luò)法就可出現(xiàn)典型測(cè)試波形。但是如果故障點(diǎn)發(fā)生在電纜接頭或終端頭時(shí),往往會(huì)發(fā)生判斷困難,而且還會(huì)發(fā)生一些無(wú)法解釋的反?,F(xiàn)象。
ZKY真空度測(cè)試儀接頭故障在測(cè)試中有可能會(huì)發(fā)生以下幾種情況:
① 初測(cè)時(shí),故障點(diǎn)電阻值較低,無(wú)法作耐壓試驗(yàn),而加上沖擊高壓后,絕緣電阻會(huì)越來(lái)越高,而且用主機(jī)觀察時(shí)往往發(fā)現(xiàn)*點(diǎn)的反射回波,也就是故障點(diǎn)未被電離擊穿。
②在作沖擊高壓閃絡(luò)測(cè)量時(shí),從球間隙的聲音來(lái)判斷,清脆響亮,似乎故障點(diǎn)是被擊穿了的,但從主機(jī)上觀察不到故障點(diǎn)反射波(這往往是故障點(diǎn)擊穿電弧爬距太大造成的)。
③作高壓預(yù)試時(shí)泄漏電流很大,閃絡(luò)電壓加到預(yù)試zui大值時(shí)還未出現(xiàn)故障回波,并且隨著沖擊電流的加大,泄漏電流反而變小,絕緣電阻反而越高。
一般在測(cè)試時(shí)出現(xiàn)上述反?,F(xiàn)象,則應(yīng)考慮到故障點(diǎn)可能在接頭處,應(yīng)用特殊的方法來(lái)處理。如用高壓沖擊電流“燒穿”,或加大貯能電容的容量,提高沖擊電壓等等。
礦用真空度測(cè)試儀 真空滅弧室作為真空斷路器的核心部件,真空壓強(qiáng),直接影響真空滅弧室的性能,為保證滅弧室的可靠工作,我國(guó)部標(biāo)(JB)技術(shù)中規(guī)定其真空壓強(qiáng)的允許zui大值為1.33×10-2Pa 國(guó)標(biāo)(GB)中為6.6×10-2Pa。盡管現(xiàn)代電真空技術(shù)已能保證它們有10年及至20年的真空壽命。但是由于我國(guó)目前的生產(chǎn)條件和工藝水平,尚不能*保證生產(chǎn)的真空滅弧室不漏氣。同時(shí)我國(guó)現(xiàn)有的真空滅弧室觸頭材料大多采用cucr,雖然cr 的吸氣性強(qiáng),但當(dāng)采用傳統(tǒng)的粉末冶金法來(lái)制備cucr材料時(shí),材料的含氣量還是比較高的。另外,由于制造時(shí)焊接工藝的質(zhì)量或運(yùn)輸過(guò)程中,受震動(dòng)或安裝操作上的不當(dāng)?shù)仍?,造成漏氣的可能性也是存在的。因此,真空滅弧室制成出廠以后,并不能永遠(yuǎn)維持真空的壓強(qiáng),而是有一定的真空壽命。隨著時(shí)間的增加,滅弧室外的真空度將降低。經(jīng)過(guò)嚴(yán)格電真空工藝處理的真空滅弧室,影響真空度的主要因素為工作表面的放氣與吸氣過(guò)程。隨著工作時(shí)間的增長(zhǎng),滅弧室的微漏氣也會(huì)導(dǎo)致其真空度下降。使絕緣和開(kāi)斷性能降低,發(fā)展到一定程度,真空斷路器將喪失其工作能力。滅弧室真空狀況直接影響電力系統(tǒng)運(yùn)行的安全性。因此,對(duì)服役真空滅弧室真空度測(cè)定尤為重要。 測(cè)試原理 性能指標(biāo) 技術(shù)參數(shù) |