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深圳市科時達電子科技有限公司
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更新時間:2022-10-22 12:12:24瀏覽次數(shù):227次
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The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術,繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學性能成像等功能。
The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 的電容傳感技術,繼承了市場的批商業(yè)化原位 SEM 納米力學平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學性能成像等功能。
控制和性能
Hysitron PI 89的緊湊設計允許的樣品臺傾斜,以及測試時成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產品更廣闊的適用性和性能:
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