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      深圳市邁昂科技有限公司


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      NanoCalc薄膜反射光譜儀系統(tǒng)

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      參  考  價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

      產(chǎn)品型號NanoCalc

      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

      所  在  地

      聯(lián)系方式:呂先生查看聯(lián)系方式

      更新時間:2022-10-30 10:13:58瀏覽次數(shù):228次

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      經(jīng)營模式:其他

      商鋪產(chǎn)品:30條

      所在地區(qū):

      聯(lián)系人:呂先生

      產(chǎn)品簡介

      薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進行10nm~250µm的膜厚分析測量,對單層...

      詳細介紹

      NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)

            薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進行10nm~250µm的膜厚分析測量,對單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。


           的兩種測量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測量、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進行膜厚測量。


      技術(shù)參數(shù)

      入射角

      90°

      層數(shù)

      3層以下

      需要進行參考值測量

      透明材料

      傳輸模式

      粗糙材料

      測量速度

      100ms - 1s

      在線監(jiān)測

      可以

      公差(高度)

      參考值測量或準(zhǔn)直(74-UV)

      公差(角度)

      參考值測量

      微黑子選項

      配顯微鏡

      顯示選項

      配顯微鏡

      定位選項

      6"和12" XYZ 定位臺

      真空

      可以

      關(guān)鍵詞:顯微鏡

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