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日本（Nikon）尼康XT H 225 工業(yè)CT掃描系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

泛應(yīng)用于小型鑄件，塑料零件檢測(cè)，材料研究等領(lǐng)域的型CT在零件內(nèi)部組裝的信息獲取與測(cè)定，質(zhì)量管理，故障分析，材料研究等應(yīng)用中。裝備了強(qiáng)力的225kV微焦點(diǎn)X射線(xiàn)源的XT H 225系列，帶給我們高清晰度的X光圖像以及CT圖像

詳細(xì)介紹

日本（Nikon）尼康XT H 225 工業(yè)CT掃描系統(tǒng)

泛應(yīng)用于小型鑄件，塑料零件檢測(cè)，材料研究等領(lǐng)域的型CT

在零件內(nèi)部組裝的信息獲取與測(cè)定，質(zhì)量管理，故障分析，材料研究等應(yīng)用中。裝備了強(qiáng)力的225kV微焦點(diǎn)X射線(xiàn)源的XTH225系列，帶給我們高清晰度的X光圖像以及CT圖像

適用于車(chē)間的功能

多年來(lái)，X射線(xiàn)CT一直用于實(shí)驗(yàn)室中的樣品內(nèi)部檢測(cè)，例如化石和人工制品等。最近，該技術(shù)在制造環(huán)境的質(zhì)量控制應(yīng)用中發(fā)揮著重要作用。

它能夠無(wú)損檢測(cè)零件和裝配件內(nèi)部的空隙、毛刺、裂紋和其他缺陷，包括額外制造的零件和裝配件。它還可以作為一種計(jì)量工具，用以確保內(nèi)部和外部尺寸符合高精度要求。然而，制造商們已不滿(mǎn)足于僅在制造過(guò)程中“精益求精"。他們?cè)谲?chē)間使用CT實(shí)時(shí)調(diào)整生產(chǎn)線(xiàn)，以防止零件超出公差范圍。

XT H 225 ST 2x結(jié)合了我們的專(zhuān)業(yè)硬件和創(chuàng)新軟件，因此具備各種應(yīng)用中所需的高效性、可靠性和準(zhǔn)確性。它支持用戶(hù)新產(chǎn)品從研發(fā)到建立生產(chǎn)線(xiàn)、預(yù)試生產(chǎn)到批量生產(chǎn)的各個(gè)環(huán)節(jié)，直至最終投入市場(chǎng)。

靈活滿(mǎn)足不同需求

XT H 225 ST 2x可配置業(yè)界的平板探測(cè)器，可達(dá)2880×2880像素（150µm）。該系統(tǒng)具有切換X射線(xiàn)靶、馬達(dá)移動(dòng)FID和選擇測(cè)量模式的功能，是一種非常靈活的工具，可應(yīng)對(duì)各種樣品和檢測(cè)挑戰(zhàn)。這意味著XT H 225 ST 2x不僅適用于快速連續(xù)檢測(cè)，同樣也適用于研發(fā)工作、預(yù)生產(chǎn)支持、質(zhì)量控制和故障分析。

XT H 225 X射線(xiàn)和CT檢測(cè)系統(tǒng)，可供工業(yè)應(yīng)用工業(yè)零部件內(nèi)外全檢

外部零件和總成特征的詳細(xì)測(cè)量對(duì)于質(zhì)量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系統(tǒng)可提供強(qiáng)大的X射線(xiàn)源，超大的檢測(cè)體積和較高的X射線(xiàn)和CT成像分辨率。

XT H 系統(tǒng)可采用225kV電源，可選用旋轉(zhuǎn)目標(biāo)，適合于各種應(yīng)用，包括小鑄件檢測(cè)、塑料件及材料研究。

一種射線(xiàn)源可配四種靶

一個(gè)225千伏微焦點(diǎn)源加上四個(gè)可選X射線(xiàn)靶頭實(shí)現(xiàn)了其靈活性。所有靶均可由用戶(hù)切換以?xún)?yōu)化系統(tǒng)性能，切換過(guò)程快速且毫不費(fèi)力。因此避免了購(gòu)買(mǎi)和維護(hù)第二源管和附件的額外成本。反射靶是我們的標(biāo)準(zhǔn)配置，焦點(diǎn)尺寸低至 3µm，可為各種應(yīng)用提供合適的分辨率和功率。另一方面，旋轉(zhuǎn)靶使用30W以上功率和同功率下三分之一小的焦點(diǎn)，可以在高功率下保持非常清晰的圖像，并減少掃描物體所需的時(shí)間。透射靶可提供小于1μm的焦點(diǎn)，以獲得更高的清晰度。通常在材料分析中，使用低能量的X射線(xiàn)發(fā)射有效，可以用多金屬靶來(lái)實(shí)現(xiàn)。除了標(biāo)準(zhǔn)鎢（W）靶外，操作者還可以選擇銀（Ag）、鉬（Mo）和銅（Cu）。

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行業(yè)的檢測(cè)器技術(shù)

Nikon Metrology使用業(yè)界的平板探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)更小的像素和更快的曝光。然而，面板技術(shù)的*功能只有與兼容的微焦點(diǎn)X射線(xiàn)源匹配時(shí)才能發(fā)揮作用。

XT H 225 ST 2x提供了這種兼容性，正因如此，Rotating.Target2.0產(chǎn)生的高功率使探測(cè)器能夠以更快的曝光時(shí)間工作，從而實(shí)現(xiàn)超快的數(shù)據(jù)采集。高功率X射線(xiàn)的微焦點(diǎn)特性加上探測(cè)器的小像素和大面積優(yōu)勢(shì)，使得數(shù)據(jù)集具有高質(zhì)量和高分辨率。

HALF.TURN CT，快速CT采集

樣品檢測(cè)時(shí)通常需要將樣品旋轉(zhuǎn)360度，而射向樣品的X射線(xiàn)不是被吸收就是穿透，對(duì)此Nikon Metrology設(shè)計(jì)了一種方法，使樣品只需旋轉(zhuǎn)超過(guò)180度即可獲得足夠的數(shù)據(jù)。

我們的重構(gòu)軟件開(kāi)發(fā)*由公司自主控制，能夠引入新的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)中心計(jì)算，并優(yōu)化重構(gòu)算法，從而促進(jìn)了半轉(zhuǎn)的誕生。這些技術(shù)的共同作用消除了由樣品旋轉(zhuǎn)不足360度而產(chǎn)生的偽影。因此，只需一半傳統(tǒng)CT所需數(shù)據(jù)即可自動(dòng)生成同等質(zhì)量和精度的圖像。

ROTATING.TARGET 2.0

Nikon Metrology工業(yè)CT系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)還包括旋轉(zhuǎn)靶技術(shù)，可顯著提高掃描速度和信噪比。這是由于靶可以生成高功率X射線(xiàn)，并同時(shí)保持微焦點(diǎn)。版本Rotating.Target 2.0的優(yōu)化設(shè)計(jì)使正常運(yùn)行時(shí)間延長(zhǎng)了一倍。以8000轉(zhuǎn)/分的轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)鎢靶，結(jié)合液體冷卻，提高了入射電子束小光斑產(chǎn)生熱量的散熱效率。與僅依靠其材料特性（如導(dǎo)熱系數(shù)）進(jìn)行冷卻的固定大功率靶相比，旋轉(zhuǎn)靶具有顯著的優(yōu)勢(shì)。它可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)運(yùn)行和連續(xù)掃描，無(wú)需冷卻，功率450瓦，無(wú)需切換至其他靶。

*控制軟件

Inspect-X軟件在X射線(xiàn)CT市場(chǎng)中極其優(yōu)秀。它直觀、易用，簡(jiǎn)化了復(fù)雜樣品的CT掃描過(guò)程，有利于準(zhǔn)確檢測(cè)。該軟件由Nikon Metrology公司自主開(kāi)發(fā)，旨在簡(jiǎn)化采集和重構(gòu)CT數(shù)據(jù)的過(guò)程。

對(duì)于新手用戶(hù)而言，最關(guān)鍵的是其智能化可以隨時(shí)為他們提供當(dāng)前所需信息，因此簡(jiǎn)化了任務(wù)流程。高級(jí)用戶(hù)可以利用對(duì)源和平板探測(cè)器的所有設(shè)置，以及采集技術(shù)和設(shè)置的熟練掌握，將系統(tǒng)自定義至當(dāng)前掃描樣品的狀態(tài)。從而獲得的控制體驗(yàn)，并可按需自定義測(cè)量，例如延時(shí)CT或在生產(chǎn)線(xiàn)內(nèi)*集成檢測(cè)系統(tǒng)。

馬達(dá)移動(dòng)FID

由于X射線(xiàn)強(qiáng)度隨著源和平板探測(cè)器之間距離的增加而降低，為了補(bǔ)償任何通量損失，用戶(hù)通常必須增加X射線(xiàn)源功率，這會(huì)使焦點(diǎn)變大，或者延長(zhǎng)探測(cè)器曝光時(shí)間，這會(huì)使掃描時(shí)間變長(zhǎng)。

XT H 225 ST 2x具有馬達(dá)移動(dòng)FID（焦點(diǎn)到探測(cè)器距離）調(diào)整功能，因此用戶(hù)無(wú)需增加X射線(xiàn)功率或延長(zhǎng)探測(cè)器曝光時(shí)間。用戶(hù)可以選擇較短的FID，以便在使用低功率X射線(xiàn)時(shí)，為給定分辨率提供更快的掃描時(shí)間或更高的信噪比。

批量CT檢測(cè)

Nikon Metrology的Inspect-X軟件允許用戶(hù)保存配置文件，以便日后調(diào)用。配置文件定義了所有采集和分析參數(shù)，確保了整個(gè)CT過(guò)程的可重復(fù)性。

? 無(wú)需編程技能

? 簡(jiǎn)單的操作界面

? 無(wú)需手動(dòng)選擇參數(shù)

? 操作員可以自由執(zhí)行其他任務(wù)

半自動(dòng)CT檢測(cè)

需要手動(dòng)操作的環(huán)節(jié)是裝入多零件樣品架。零件識(shí)別、程序選擇、數(shù)據(jù)采集、分析和報(bào)告*自動(dòng)化。

? 自動(dòng)零件識(shí)別

? 與制造數(shù)據(jù)庫(kù)集成

? 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（SPC）

在線(xiàn)CT檢測(cè)

在線(xiàn)CT檢測(cè)是對(duì)應(yīng)*自主生產(chǎn)環(huán)境中，需要檢測(cè)具有復(fù)雜幾何形狀關(guān)鍵零件的解決方案。

? 與機(jī)器人和輸送系統(tǒng)集成

? 快速檢測(cè)和過(guò)程變化反饋

? 實(shí)時(shí)控制和優(yōu)化生產(chǎn)

主要特點(diǎn):

高速旋轉(zhuǎn)靶（選配件）可以使X射線(xiàn)束增幅達(dá)到五倍，實(shí)現(xiàn)了在同一掃描時(shí)間內(nèi)CT數(shù)據(jù)精度更高，CT數(shù)據(jù)獲取也更加快速。

? 225kV的強(qiáng)力射線(xiàn)管（選配旋轉(zhuǎn)靶）
? 實(shí)時(shí)的X射線(xiàn)可視化，迅速的CT 數(shù)據(jù)重構(gòu)
? *可編程化的5軸操作樣品臺(tái)
? 可自定義宏讓檢測(cè)工作流程自動(dòng)化
? 針對(duì)多用途設(shè)計(jì)的3種不同大小的鉛房防護(hù)外殼（標(biāo)準(zhǔn)，ST，LC）

引進(jìn)功能:

? 將靈活性整合到一個(gè)系統(tǒng)里:X射線(xiàn)快速可視化檢測(cè)，CT重構(gòu)精密解析
? 快速獲取高品質(zhì)圖像
? 人機(jī)交互式操作桿導(dǎo)航界面使用快速直觀
? 高清晰度數(shù)字圖像與圖像處理
? 不需要特別外加防護(hù)的完備安全系統(tǒng)
? 通用于業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的后處理應(yīng)用格式

用途：

? 精密的塑料零件，小型鑄件，復(fù)雜的機(jī)械裝置、CAD實(shí)物比對(duì)等等的評(píng)價(jià)與測(cè)定
? 詳細(xì)的故障原因分析
? 高級(jí)材料學(xué)研究與生物學(xué)的構(gòu)造分析
? 模型的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換與保存
? 組裝裝配的問(wèn)題分析

優(yōu)點(diǎn):

? 可靈活地整合在單個(gè)系統(tǒng)中：X射線(xiàn)可用于快速目視檢測(cè)，CT可用于深入分析快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像；
? 可利用交互式操縱桿導(dǎo)航功能進(jìn)行快速操作高分辨率數(shù)字成像和處理；
? 嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無(wú)需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志；
? 可與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)后處理應(yīng)用緊密集成

產(chǎn)品規(guī)格及參數(shù);

X射線(xiàn)源		探測(cè)器
類(lèi)型	開(kāi)管微焦點(diǎn)	有效面積	432 mm × 432 mm
靶選項(xiàng)	反射靶、Rotating.Target 2.0 、透射靶、多金屬靶	像素矩陣	2,880 × 2,880
能量	225 kV	最小像素尺寸	150 µm
功率	450 W	幀速率	30 fps
最小焦點(diǎn)	1 µm	類(lèi)型	ASTM E 2597

系統(tǒng)		機(jī)柜
CT掃描直徑	255 mm	長(zhǎng)度	2,414 mm
FID （焦點(diǎn)到成像儀的距離）	標(biāo)稱(chēng)1,110 mm	寬度	1,275 mm
FID類(lèi)型	馬達(dá)移動(dòng)	高度	2,202 mm
樣品重量	50 kg	重量	4,200 kg