XDLM-C4 X射線測厚儀
FISCHERSCOPE® XDLM®-C4 是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。
微聚焦X-射線管以及電機帶動的有4個不同尺寸視準(zhǔn)器組成的視準(zhǔn)器組使得XDLM®-C4成為測量大批量生產(chǎn)部件的理想測量儀器，例如螺絲，螺母和螺栓?？蛇x擇的鈷接收器有效地解決銅上鍍鎳的測量應(yīng)用問題
XDLM®-C4的特色是的距離修正測量方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別，簡便了測量復(fù)雜幾何外形的測試工件和在不同測量距離上的測量。
與WinFTM® V.6軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay結(jié)合，XDLM®-C4作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分， 上乘地適用于快速，非破壞性和**的測量珠寶及貴金屬中金的成分。
HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，FISCHER公司的X射線儀器具有其的特點。
有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件）
典型的應(yīng)用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
| | FISCHERSCOPE®
X-RAY
XDLM®-C4 |
| 測量方向 | 從上往下 |
| X-射線管型號
W: 鎢管
MW: 微聚焦鎢管 | MW |
| 可調(diào)節(jié)的高壓
30kV; 40kV; 50kV |
|
| 開槽的測量箱體 |
|
| 基本Ni濾波器 |
|
| 接收器(Co)
可選擇的
WM-版本 |
|
| 數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目 | 4 |
| z-軸 | 電機驅(qū)動的或可編程的 |
| 測量臺類型 | 手動XY工作臺或
可編程的XY工作臺 |
| 測試點的放大倍率 | 20 - 180 x |
| DCM方法
(距離控制測量) |
|
| WinFTM® 版本 | V.3 標(biāo)準(zhǔn)
V.6 可選擇 |
| 操作系統(tǒng)：
Windows XP prof. |
|
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-C4 儀器系列
目前類型
FISCHERSCOPE® X-RAY 手動的XY工作臺和電機驅(qū)動的X-射線測量頭Z-軸運行
XDLM®-C4 XymZ
FISCHERSCOPE® X-RAY 可編程的XY工作臺和可編程的
XDLM®-C4 XYZp X射線測量頭Z-軸運行
XY工作臺定位精度要求不高時，是非常適合的
FISCHERSCOPE® X-RAY 可編程的高精度XY工作臺和可編程X-射線測量頭Z-軸運行
XDLM®-C4 PCB 尤其是專為測量小部件或側(cè)試點而設(shè)計，例如線路板上的導(dǎo)電片或?qū)щ妿?/span>
尺寸
測量頭 寬 = 570 mm; 深 = 740 mm; 高 = 650 mm
測量箱體 寬 = 460 mm; 深 = 500 mm; 高 = 300 mm
涂裝 相關(guān)儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，標(biāo)準(zhǔn)光源箱
