XDVM-P X-RAY測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE® XDVM®-P是一款基于Windows™ 的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。
它杰出的特性包括：2組可切換的各帶4個(gè)視準(zhǔn)器的視準(zhǔn)器組，大的開槽的測(cè)量箱體確保工件放置簡(jiǎn)便，**的可編程的直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)的X-Y工作臺(tái)快速和無振動(dòng)移動(dòng)以及原始射線從上往下設(shè)計(jì)為在Z-軸可移動(dòng)的X-射線發(fā)生和接受裝置。
這個(gè)特性使得該系統(tǒng)非常適合于測(cè)量大批量生產(chǎn)的部件，例如螺絲，連接器插針或大的線路板。按動(dòng)按鈕就可根據(jù)預(yù)設(shè)的測(cè)試點(diǎn)定位進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，并可自動(dòng)的進(jìn)行評(píng)估報(bào)告輸出。
HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，FISCHER公司的X射線儀器具有其的特點(diǎn)。
有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM® V.6軟件）
典型的應(yīng)用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
| | FISCHERSCOPE®
X-RAY
XDVM®-P |
| 測(cè)量方向 | 從上往下 |
| X-射線管型號(hào)
W: 鎢管
MW: 微聚焦鎢管 | MW |
| 可調(diào)節(jié)的高壓
30kV; 40kV; 50kV |
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| 開槽的測(cè)量箱體 |
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| 基本Ni濾波器 |
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| 接收器(Co)
可選擇的
WM-版本 |
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| 數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目 | 4 |
| z-軸 | 可編程的 |
| 測(cè)量臺(tái)類型 | 可編程的XY工作臺(tái) |
| 測(cè)試點(diǎn)的放大倍率 | 20 - 180 x |
| DCM方法
(距離控制測(cè)量) |
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| WinFTM® 版本 | V.3 標(biāo)準(zhǔn)
V.6 可選擇 |
| 操作系統(tǒng)：
Windows XP prof. |
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-P instrument series
FISCHERSCOPE® X-RAY Version with programmable XY stage and programmable X-Ray
XDVM®-P head Z-axis
XY stage travel : 250 mm x 250 mm
Dimensions
Measurement head width = 660 mm; depth = 950 mm; height = 720 mm
Measurement chamber width = 580 mm; depth = 560 mm; height = 145 mm
涂裝 相關(guān)儀器：涂層測(cè)厚儀，漆膜硬度測(cè)試儀，電解膜厚儀，黏度計(jì)/粘度計(jì)，X射線測(cè)厚儀，附著力測(cè)試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測(cè)定儀，光譜儀，涂膜干燥時(shí)間記錄儀，標(biāo)準(zhǔn)光源箱
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