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寧波旗辰儀器有限公司
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更新時(shí)間:2023-01-29 10:51:19瀏覽次數(shù):332次
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涂鍍層測(cè)厚儀XDV-;是專(zhuān)為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡,光斑直徑(FWHM)可達(dá)10至60#181;m。短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。除了通用型XDV-#181;型儀器,還有專(zhuān)門(mén)為電子和半導(dǎo)體行業(yè)而設(shè)計(jì)的儀器。
涂鍍層測(cè)厚儀XDV-µ應(yīng)用:
鍍層厚度測(cè)量
1、測(cè)量未布元器件和已布元器件的印制線路板
2、在納米范圍內(nèi)測(cè)量復(fù)雜鍍層系統(tǒng),如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度
3、對(duì)大12英寸直徑的晶圓進(jìn)行全自動(dòng)的質(zhì)量監(jiān)控
4、在納米范圍內(nèi)測(cè)量金屬化層(凸塊下金屬化層,UBM)
5、遵循標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 3497 和 ASTM B568
材料分析
1、分析諸如Na等極輕元素
2、分析銅柱上的無(wú)鉛化焊帽
3、分析半導(dǎo)體行業(yè)中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面
涂鍍層測(cè)厚儀XDV-µ特點(diǎn):
1、Advanced polycapillary X-ray optics that focus the X-rays onto extremely small measurement surfaces
2、*的多毛細(xì)管透鏡,可將X射線聚集到極微小的測(cè)量面上
3、現(xiàn)代化的硅漂移探測(cè)器(SDD),確保的檢測(cè)靈敏度
4、可用于自動(dòng)化測(cè)量的超大可編程樣品平臺(tái)
5、為特殊應(yīng)用而專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的儀器,包括:
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