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      天津市金貝爾科技有限公司
                                
                
                
      

							
      
                        			
      
		
      
	
      
	
	
      
		
      
            
      
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      德國布魯克半導(dǎo)體專用分析光譜儀
      
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								更新時(shí)間：2022-11-16 10:30:41瀏覽次數(shù)：241次
							
      
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                    產(chǎn)品簡介
                
      
				
      
                      
      
                                                                      
      
					
      CryoSAS是布魯克光譜公司生產(chǎn)的專門用于硅材料分析的一體化的低溫檢測系統(tǒng)。Z多可一次安放九個(gè)樣品，優(yōu)化設(shè)計(jì)的光譜儀能夠同時(shí)檢測III、V族摻雜元素（如硼、磷等淺雜質(zhì)態(tài)）在單晶硅中的硅中取代碳,間隙氧含量的測定等.半導(dǎo)體行業(yè)專用檢測設(shè)備。
      
				
      
				
      
                    詳細(xì)介紹
                
      
			    
      
			        
      
			            
      •半導(dǎo)體專用分析光譜儀CryoSAS
      CryoSAS是布魯克光譜公司生產(chǎn)的專門用于硅材料分析的一體化的低溫檢測系統(tǒng)。            
      CryoSAS*地將高性能的布魯克FT-IR光譜技術(shù)與現(xiàn)代化與方便實(shí)用的低溫閉循環(huán)致冷系統(tǒng)結(jié)合在一起，擺脫了通常進(jìn)行高靈敏度檢測時(shí)對液氦的依賴。CryoSAS的全部組件都采用了*的一體化和人性化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)理念，使得這樣的系統(tǒng)能夠適應(yīng)硅材料生產(chǎn)中的不同使用環(huán)境。
      CryoSAS系統(tǒng)的主要指標(biāo)為： 
      光譜范圍：1500-280cm-1
      半導(dǎo)體分析專用可安裝九個(gè)樣品的樣品架,樣品的尺寸：zui多可一次安放九個(gè)樣品，樣品的尺寸為：直徑或邊長為10mm的圓形或方形樣品，厚度為2.5~5mm
      光譜分辯率：0.5cm-1
      優(yōu)化設(shè)計(jì)的光譜儀能夠同時(shí)檢測 III、V族摻雜元素(如硼、磷等淺雜質(zhì)態(tài))在單晶硅中的硅中取代碳,間隙氧含量的測定等。
      
			        
      
			    
      
                			    
      關(guān)鍵詞：光譜儀
      
                                                				
			
      
			
      
		
      
	
      
	
    
      
		
      
			
      
				
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