便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀
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深圳市方源儀器有限公司
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)CMI563
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時(shí)間:2023-01-15 10:39:40瀏覽次數(shù):164次
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在線(xiàn)數(shù)顯CMI563表面銅測(cè)厚儀膜厚儀由深圳市方源儀器總代理,英國(guó)牛津儀器品牌,美國(guó)生產(chǎn)。提供了**測(cè)試表面銅銅厚(包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板)的方法。在線(xiàn)數(shù)顯CMI563表面銅測(cè)厚儀膜厚儀由于采用了目前市場(chǎng)上*為*的測(cè)試技術(shù),無(wú)論絕緣板層多厚,印刷電路板背銅層不會(huì)對(duì)**可信的測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。
在線(xiàn)數(shù)顯CMI563表面銅測(cè)厚儀膜厚儀
在線(xiàn)數(shù)顯CMI563表面銅測(cè)厚儀膜厚儀由深圳市方源儀器總代理,英國(guó)牛津儀器品牌,美國(guó)生產(chǎn)。提供了**測(cè)試表面銅銅厚(包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板)的方法。在線(xiàn)數(shù)顯CMI563表面銅測(cè)厚儀膜厚儀由于采用了目前市場(chǎng)上*為*的測(cè)試技術(shù),無(wú)論絕緣板層多厚,印刷電路板背銅層不會(huì)對(duì)**可信的測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。
在線(xiàn)數(shù)顯CMI563表面銅測(cè)厚儀膜厚儀工作原理:
采用微電阻測(cè)試技術(shù),提供了準(zhǔn)確和**測(cè)量表面銅銅厚(包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板)的方法。
微電阻測(cè)試原理
微電阻測(cè)試技術(shù)利用四根接觸式探針在表面銅箔上產(chǎn)生電信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。SRP-4探頭采用四根設(shè)計(jì)、堅(jiān)韌耐用的探針(牛津儀器磚利產(chǎn)品)以保證高**度、小接觸面積和*小的測(cè)量表面印痕。探針可通過(guò)透明材質(zhì)的外殼看到,使客戶(hù)能夠**地定位測(cè)試位置。探針采用高耐用性的合金以抵抗折斷和磨損。當(dāng)探頭接觸銅箔樣品時(shí),恒定電流通過(guò)外側(cè)兩根探針,而內(nèi)側(cè)兩根探針測(cè)得該電壓的變化值。根據(jù)歐姆定律,電壓值被轉(zhuǎn)換為電阻值,利用一定的函數(shù),計(jì)算出厚度值。微電阻測(cè)試技術(shù)為銅箔應(yīng)用提供了高準(zhǔn)確度的銅厚測(cè)量。
銅厚測(cè)量范圍:
非電鍍銅:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),
電鍍銅:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線(xiàn)形銅可測(cè)線(xiàn)寬范圍:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
準(zhǔn)確度:±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片
**度:非電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %;
電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %
分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
接口:RS-232串行接口,波特率可調(diào),用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
顯示:4數(shù)位LCD液晶顯示,2數(shù)位存儲(chǔ)位置,字符高1/2英寸(1.27厘米)
存儲(chǔ)量:13,500條讀數(shù)
統(tǒng)計(jì)顯示:測(cè)量個(gè)數(shù),標(biāo)準(zhǔn)差,平均值,*大值,*小值。
單位:通過(guò)一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換
電池:9伏電池
電池壽命:65小時(shí)連續(xù)使用
重量:9盎司(0.26千克)包括電池
尺寸:5 7/8英寸(長(zhǎng))×3 1/8英寸(寬)×1 3/16英寸
在線(xiàn)數(shù)顯CMI563表面銅測(cè)厚儀膜厚儀
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中國(guó)代理商:深圳市方源儀器有限公司
地址:深圳市南山區(qū)登良路62號(hào)南園綜合樓5樓 地址:上海市閔行區(qū)申濱路1051弄140號(hào)1101室
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