ZEISS METROTOM 工業(yè)CT斷層掃描測量儀2
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廣東越聯(lián)儀器有限公司
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產(chǎn)品型號ZEISS METROTOM
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
聯(lián)系方式：練悄聞 查看聯(lián)系方式
更新時間：2022-10-12 16:00:57瀏覽次數(shù)：195次
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基于ZEISSMETROTOM的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描（CT）利用蔡司的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗
利用蔡司的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標(biāo)準(zhǔn)的驗收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺，滿足客戶對精度的高要求。
ZEISS METROTOM是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
利用ZEISS METROTOM計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精準(zhǔn)，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。
僅需通過短時間的ZEISS METROTOM OS軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。利用ZEISS CALYPSO可評估CT數(shù)據(jù)，再利用ZEISS PiWeb即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。
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