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上海皆準(zhǔn)儀器設(shè)備有限公司
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更新時(shí)間:2022-12-10 10:21:57瀏覽次數(shù):227次
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簡(jiǎn)要描述:ED400氧化膜涂層測(cè)厚儀量程寬 ED400型的量程達(dá)到0~500μm;精度高 ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%;分辨率高 ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
ED400氧化膜涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介:
儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
ED400氧化膜涂層測(cè)厚儀特點(diǎn):
量程寬 ED400型的量程達(dá)到0~500μm。
精度高 ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
分辨率高 ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡(jiǎn)便 只校正“0"和“50μm"兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量 誤差不大于1~2μm。
可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
穩(wěn)定性提高 采用*的溫度補(bǔ)償技術(shù),測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
探頭線壽命長(zhǎng) 采用德國(guó)進(jìn)口的,在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命 可大大延長(zhǎng)。
探頭芯壽命長(zhǎng) 采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
探頭可互換 外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)需返廠維修。
ED400氧化涂層膜測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍: 0~500μm
測(cè)量精度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:0.1μm、
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 260g
ED400氧化膜涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置:
主機(jī) 1臺(tái)
探頭 1支
基體 1塊(6063合金)
校正箔片 1片(約50μm,附檢測(cè)報(bào)告)
使用說(shuō)明書(shū) 1份
合格證 1份
保修單 1份
手提式儀器箱1個(gè)
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