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更新時(shí)間:2022-10-18 16:47:18瀏覽次數(shù):189次
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薄膜測厚儀
薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度,根據(jù)測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務(wù)需求。低測力可達(dá)0.06N,高分辨率0.01μm。 分辨率:0.1μm 測力:0.3-1.3N(根據(jù)需要選擇) 分辨率:1μm 測力:0.4-1.6N(根據(jù)需要選擇) 分辨率:0.01μm 測力:0.06-0.8N(根據(jù)需要選擇)
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